中古 MICROTRAC Belsorp-mini X #293592486 を販売中

ID: 293592486
Nanotechnology particle size.
MICROTRAC Belsorp-mini Xは、薄いウェーハ基板の非破壊測定のために設計されたウェーハ試験および計測機器です。その精度とスピードは、サンプルの準備と洗浄を必要とせずに、リアルタイムの測定と結果をユーザーに提供します。この強力で汎用性の高いツールは、研究開発ラボ、生産および品質管理アプリケーションに最適です。Belsorp-mini Xは、静的および動的試験、表面プロファイル測定、2D画像解析など、ウェハテストのさまざまな機能を提供します。静的試験では、ウェーハ平坦度(ベースライン平坦度)と円筒度(曲面の丸さと滑らかさ)を高精度で測定できます。また、ISO公差を測定する機能や、プロファイルスキャンとプロファイルエッジ抽出を実行する機能も含まれており、サーフェス上の不規則性を特定するのに役立ちます。MICROTRACの動的試験機能は、ウェーハ基板の静的機械的特性と同様に、厚さ/ノイズ比を測定することができます。これらの測定から、ユーザーはウェーハの弾性と剛性を理解することができます。さらに、このユニットの表面プロファイル測定機能により、ユーザーはさまざまな表面輪郭上の平坦度とピーク・ツー・バレー距離を測定できます。MICROTRAC Belsorp-mini Xは光学計測機能も備えており、ウェハ基板の表面粗さ、エッジ半径、角角角などを高精度で測定することができます。光学技術には2Dイメージングユニットが含まれており、ウェハ表面の視覚的なイメージを提供します。これにより、ユーザーはウェーハのプロファイル、不規則性、およびその他の要因を迅速に評価できます。また、12。7メガピクセルのデジタルカメラと最大画質を実現する専用の対物レンズを搭載しています。精度を確保するために、Belsorp-mini Xには洗練されたソフトウェア機能も含まれています。これには、インタラクティブな視覚ナビゲーションと分析を提供するMetisPaintソフトウェアや、正確な計測結果を提供するPython Loop Theoryなどのさまざまな測定技術が含まれます。MICROTRAC Belsorp-mini Xは、薄型ウエハ基板の非破壊検査を高精度で行うことができる高度なウエハテストおよび計測ツールです。その強力な能力と高度な光学技術システムは、研究開発ラボ、生産および品質管理アプリケーションのための理想的なツールになります。
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