中古 MICRO-TEC Z-CHECK 500 #9010808 を販売中

ID: 9010808
Non-contact thickness measuring system Measuring range: 10mm On screen images Features: (3) micron typical accuracy in Z axis measurement White light source Granite base Monochrome monitor Specifications: Magnification: x50. Options available Digital readout: 0.001mm (0,0001inch) Projector lamp: 6V. 1.2 Amp. Tungsten Surface illuminator: 6V. 1.2 Amp. Tungsten Max sample height: 10mm (0,4 inch) Throat depth: 240mm (9.5 inch) Granite base size: 500mm x 500mm (20 x 20 inch) CTV: 1/3” CCD Camera: 9” monochrome monitor Power: 240V AC 50/60Hz. - 110V AC 50/60Hz. (optional).
MICRO-TEC Z-CHECK 500は、最新のウェーハ操作および測定技術のために設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、小型・軽量の特許技術を活用しており、幅広いユーザーにアクセス可能です。その堅牢な設計は、優れた精度と信頼性を提供し、あらゆるテストで正確な結果を提供します。Z-CHECK 500ウェハテストおよび計測ユニットは、最大厚さ7mmの12インチまたは5インチウェハテストが可能なモジュラーマシンです。このツールは、膜厚や細胞密度などのさまざまな特性、および非均一性、地形、オーバーレイなどのより複雑な特性を測定することができます。光学系の精密な使用により、基板ホルダーを必要とせずに裏面からウェーハを測定することができます。このモデルには、テストウェーハを保持してモーションコントロールを行うプローブステーション、ウェーハを解放するウェーハハンドラユニット、データ可視化のためのディスプレイユニットなど、さまざまな機能が搭載されています。MICRO-TEC Z-CHECK 500には、さまざまなマッピングおよび測定アプリケーションが付属している強力でユーザーフレンドリーなツールであるAdvanced Wafer Metrology Kitも含まれています。このキットを使用すると、さまざまなパラメータと条件を定義でき、Z-CHECK 500はさまざまな微細構造化サーフェスフィーチャーを測定することができます。また、ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)をユーザーに提供します。GUIは、直感的なドロップダウンメニューを含むさまざまな便利なツールを提供しており、ユーザーは必要なツールをすばやく見つけることができます。この機能により、ユーザーは保存されたデータだけでなく、診断、手順、およびテスト結果を表示することができます。MICRO-TEC Z-CHECK 500ウェーハテストおよび計測システムは、ウェーハ分析を次のレベルに引き上げるために必要なデバイスです。高度な機能を備えたこのユニットは、最も複雑な測定でも正確で信頼性の高い結果を提供します。
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