中古 MEYER BURGER JVX 6200 #9262023 を販売中

MEYER BURGER JVX 6200は、半導体業界の要求に応えるように設計された高度な計測およびウェーハ試験装置です。この汎用性と高精度システムは、LT、 HVM、 HVLT ICを含む幅広い基板のデバイスパラメータ、地形、オーバーレイおよび電気特性を測定することができます。JVX 6200にはいくつかの高度な機能があります。これは、9つの交換可能な計測/テストヘッドを備えており、それぞれに20nmの横方向および縦方向の分解能を組み合わせた複数の検出器が装備されています。このユニットの顕微鏡は、5nmの標準的な横方向および縦方向の解像度を使用して、ウェハの欠陥や特徴の高解像度画像をキャプチャすることもできます。高電圧テストヘッドは、迅速な製品開発のための正確な電気テストを提供します。また、MEYER BURGER JVX 6200には、ビジョンアルゴリズムを使用してウェーハ構造を識別し、テスト用にマウントするモジュールをテストする前に自動化されたデバイスが含まれています。その自動マシンビジョンマシンは、テストのためにチップを正しく認識してデバイスに配置することができ、セットアップ時間を短縮し、信頼性を向上させるのに役立ちます。このツールはまた、ウェーハを顕微鏡と正確に整列させ、光学イメージングスキャンを正確にキャプチャするための自動二軸校正手順も提供します。JVX 6200はまた、独自の押出プロファイリング法を使用して、高速かつ正確な表面トポグラフィ測定を提供します。MEYER BURGER JVX 6200には、操作を簡単かつ効率的にするために設計されたさまざまなソフトウェア機能も含まれています。これらの機能には、リアルタイムの画像調整、自動測定範囲の設定、注釈、データフィルタリング、階層の複数レベル、および幅広いフォーマットとエクスポートオプションが含まれます。JVX 6200は、半導体デバイス試験および計測アプリケーション向けの効率的で強力なソリューションです。直感的で使いやすいソフトウェアインターフェイスを使用しながら、テスト前の自動装置、二軸校正、押出プロファイルなど、さまざまな高度な機能を提供します。この資産は、ユーザーがハイテクなアプリケーションの厳しい要件を満たすために設計されています。