中古 MDC ECM 98 PL #293618598 を販売中

MDC ECM 98 PLは、半導体デバイスの品質管理に使用するために設計された高度なウェーハ試験および計測プラットフォームです。このマシンは、MEMSから高度なロジックまで、幅広いウエハ製品を取り扱うことができます。MDC ECM 98PL装置は、高速スループットを実現する自動インライン構成を備えています。1レベルにつき最大98個のウェーハを管理でき、1システムにつき最大4レベルのウェーハを管理できるため、総スループットは毎時392個です。このユニットは、フォトエレクトロニクスおよび電気テストを含むさまざまなテスト構成、ならびにCD/厚さ、応力、光学スキャナ、エッチング深さなどのさまざまな計測測定をサポートするように設計されています。機械には複数の試験および計測モジュールが含まれており、これが協力して高速で信頼性の高い結果を提供します。これは、シングルおよびマルチチャンネルオプションを含む測定ヘッドの幅広い選択肢を提供しています。マルチチャネル測定ヘッドは、異なるパラメータを同時に測定する利点を提供し、より効率的な試験および測定ソリューションを可能にします。このツールはまた、高度なビジョンガイドロボットを備えています。ECM 98 PLアセットは、ハイスループットテストに役立つ多くの機能を提供します。これには、迅速に小さな欠陥を検出し、正確な分析を行うことができる欠陥マーカープログラムと、ウェーハ製品の正確な識別と追跡のためのウェーハ検証モデルが含まれています。さらに、データストレージユニットは、テストデータの便利なストレージと検索を提供し、ユーザーが必要な情報をすばやく見つけることができます。この装置はまた、テストおよび計測操作を合理化するように設計された高度なソフトウェアを備えています。直感的な制御オプションと、包括的な分析ツールとデータ解釈機能を提供します。このソフトウェアは、業界で認められている多くのテストプログラムや機能抽出アルゴリズムとも互換性があり、堅牢なデータ分析機能を提供します。全体として、ECM 98PLは、高速で信頼性の高い環境で複雑なテストを処理するように設計された高度なウェーハテストおよび計測プラットフォームを提供します。これは、包括的なテストと計測操作を可能にするハードウェア、ソフトウェア、分析ツールの包括的なスイートを提供します。最も重要なのは、今日の要求の厳しい半導体デバイス品質保証業務に必要な性能と精度を提供します。