中古 MDC CSM #77224 を販売中

MDC CSM （Model Driven Control Chip Equipment Metrology）は、EWI Advanced Metrology&Manufacturing Technologyによって開発されたウェーハ試験および計測システムです。このユニットは、プログラム可能な計測測定アーム、パイロット検査、自動化されたプロセス制御ソフトウェア、および画像解析および測定ライブラリツールからなる高度な精密計測プラットフォームです。この機械の計測アームは、データ収集と制御（DAC）のための高い汎用性を備えた堅牢な静的および動的5軸座標ツールで構成されています。一方、パイロット検査アセットは、ユーザーがプロセスデータ指標にアクセスし、プラットフォームのパフォーマンスをテストし、包括的なプロセス制御を提供できるように設計されています。最先端のコンポーネントを搭載したこのモデルは、ウェハテストおよび測定アプリケーション向けの信頼性の高い高精度ソリューションを提供します。装置のデータ収集制御（DAC）機構により、ウェーハ表面におけるプローブヘッドのスキャン速度と方向を制御することができます。これは、さらなる分析と処理に使用される信頼性の高い測定を得るのに役立ちます。また、自動スキャン機構を備えており、ステップサイズを定義してプログラミングすることで、ユーザーにさらなる柔軟性を提供します。CSMユニットには、高度な画像解析ライブラリツールもあります。このライブラリには、自動画像解析および測定ツール、および画像ベースのオブジェクト認識および評価アルゴリズムが装備されています。これらの機能により、ユーザーはテスト結果を自動的に評価し、迅速かつ正確な方法で重要な測定を得ることができます。したがって、信頼性の高いデータを取得するために必要な時間を短縮します。さらに、測定を抽出し、CADモデルに正確にマッピングするためのさまざまなソフトウェアも提供しています。さらに、自動化されたプロセス制御ソフトウェアにより、ユーザーはさまざまなウェーハプロセスのためにツールを素早くプログラムすることができ、カスタマイズされたテストプロトコルを設計することができます。最後に、この資産には、現在および将来のデータ分析要件の両方をサポートするように設計された広範なデータ管理および統計分析ツールが付属しています。全体として、MDC CSMは包括的なウェーハテストおよび計測モデルであり、ユーザーは堅牢なデータ収集および制御機能を提供します。最先端の部品により、優れた精度、信頼性、汎用性を提供し、幅広いウェーハ試験および測定アプリケーションをサポートします。