中古 MDC CSM/16 #78144 を販売中

MDC CSM/16は、集積回路の製造および試験用に設計されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、16 mm2の小規模までの半導体デバイスと材料を測定するために設計されています。半導体産業には、電気試験を実施し、試験試料の面積や厚さなどの物性を高スループットで測定するための経済的で信頼性の高い手段を提供します。このユニットは、高度な光学計測技術と、テストサンプルデータを迅速かつ正確に効果的に検出、分析、処理できる自動ソフトウェアを使用しています。これには、サンプル材料を移動させ、サンプルのテストサイトを隣接する傾斜段に取り付けられた光学計測ツールに正確に整列させるために使用できる高い親和性ランチャーが含まれています。このツールは、精密アライメント技術を備えており、サンプルに光計測技術の正確で均一な位置を提供します。さらに、サンプル材料の層の厚さやその他の特性を決定するためのカスタムデザインのイメージングツールも備えています。テストサンプルは、完全に自動化された統合イメージング方法を含む傾斜ステージに配置され、ユーザーの仕様に基づいてテストされます。このアセットはまた、正確なサンプル測定を提供し、1mVよりも低い回路の低電圧差を検出することができます。このモデルを使用すると、ユーザーは設定をカスタマイズして、サンプルデバイスと材料の望ましい特性を正確に測定することができます。また、MDC CSM/16はユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスを提供しており、お客様はさまざまな試験および測定サンプルタイプの機器を簡単かつ迅速にセットアップできます。また、グラフ、レポート、表形式の情報など、さまざまな形式のデータを表示することもできます。このユニットは業界標準に準拠しており、さまざまなテストサンプルと完全に互換性があります。さらに安全性を高めるために、機械にはあらゆる危険な状況を検出し、データの潜在的な損傷または損失からユーザーを保護するために資産を直ちにシャットダウンすることができる内蔵の安全ツールもあります。全体として、MDC CSM/16は、集積回路とサンプル材料を正確かつ効率的にテストするために設計された、高度で信頼性の高いウェーハ試験および計測モデルです。様々な試験を行い、試料材料の物性を容易に測定できる装置です。このシステムはユーザーフレンドリーで、優れたカスタマイズ性を提供し、業界標準に準拠しています。