中古 LEHIGHTON 1510EC #9390034 を販売中

LEHIGHTON 1510EC Wafer Testing and Metrology Equipmentは、半導体メーカーやテスター向けの次世代ソリューションで、半導体ウェーハの測定、分析、検査、証明を行う先端技術を提供します。LEHIGHTON 1510 ECは、計測データを迅速に取得するための4つのテスト段階と合理化されたデータ収集プロセスを備えた完全自動化システムです。半導体ウェーハハンドラ、フラットネスインスペクター、ディフェクトインスペクター、精密タイミングレコーダーの4つの試験ステージがあります。Semiconductor Wafer Handlerは、効率的かつ正確な方法で半導体ウェーハを整理し、移動するように設計された自動機械です。フラットネスインスペクターは、平面外の反りを評価するだけでなく、ウェーハの平坦性を検査することができる高精度のツールです。Defect Inspectorは、ウェーハ上の既存の欠陥を特定、分析、識別するために開発された革新的な資産です。精密タイミングレコーダーは、ウェーハのタイミング精度を証明するために、高周波測定データを正確かつ正確に収集します。1510ECは、既存の生産ライン構成、ならびに多数の品質管理ツールを含むサードパーティ製システムおよびソフトウェアとシームレスに統合します。ユーザーインターフェイスは直感的で使いやすく、簡単なWindowsベースのセットアップとパラメーターで簡単に調整できます。このモデルは、欠陥検出および分類装置を自動化して、高速で正確な測定を実行するように設計されています。1510 ECは、消費電力と騒音レベルを最小限に抑えるために作成された環境に優しいソリューションです。このシステムは、長年の心配のない操作のための長いライフサイクルを提供するために、メンテナンスとアップグレードが容易です。結論として、LEHIGHTON 1510EC Wafer Testing and Metrology Unitは、半導体メーカーやテスターのニーズを満たすあらゆる生産ラインまたはテストラボに適しています。この高度なマシンは、既存のシステムとシームレスに統合しながら、ウェーハを測定、分析、検査、および証明するために4つの異なる段階を利用します。LEHIGHTON 1510 ECは、正確で正確な測定のために設計された、エネルギー効率が高く使いやすいソリューションです。