中古 LEHIGHTON 1510C-RP #293608868 を販売中
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LEHIGHTON 1510C-RPウェーハテストおよび計測機器は、半導体ウェーハの加工および検査に使用するために設計された高精度の計測ツールです。このシステムにより、製造メーカーやテスターは、ウェーハのさまざまな特性を分析および測定し、汚染や欠陥を検出することができます。1510C-RPは全自動スタンドアロンユニットで、直径12 ″ (300mm)までのあらゆる半導体ウェーハの物理特性、電気特性、光学特性を正確に検査・分析できます。各種の特殊センサと光学顕微鏡、データ収集機を組み合わせ、オペレータの介入を必要とせずにウェーハの様々な特性を迅速かつ正確に測定します。LEHIGHTON 1510C-RPは、酸化ケイ素、窒化ケイ素、炭化ケイ素、酸素ドープされたポリシリコン、重金属シリコン酸化物など、さまざまなウエハプローブおよび基板材料をサポートしています。さらに、このツールは、粒子、残留物、汚染、欠陥などのさまざまな欠陥や汚染を検出するように構成することができます。これにより、高品質の結果が保証され、ウェーハがさらなる処理に安全であることが保証されます。1510C-RPは、非破壊試験や破壊試験、さまざまな故障解析技術など、包括的なテストモードもサポートしています。LEHIGHTON 1510C-RPには、検査用と特性評価用の2つの独立した交換可能なプラットフォームが含まれています。検査プラットフォームは、焦点の高さや重要寸法の測定など、最も基本的で重要な試験タスクを実行します。一方、特性評価プラットフォームでは、静電容量測定やキャリアモビリティテストなど、より特殊なテストを実行します。これにより、ユーザーはアプリケーションの特定のニーズに合わせてアセットを構成し、柔軟に適応することができます。さらに、1510C-RPは、自動ウェーハ処理、継続性チェック、自動データ取得、リモートアクセス制御など、テストおよび計測プロセスを簡素化する幅広い機能を提供します。これにより、全体的なテスト時間を短縮し、精度を向上させることができます。LEHIGHTON 1510C-RPは、信頼性の高い高性能ウエハテストと計測モデルを探しているメーカー、テスター、研究者に最適なソリューションです。その幅広い機能と多機能機能は、基本的なウエハ検査と複雑な分析タスクの両方に理想的なプラットフォームを提供します。さらに、その費用対効果と簡単な操作は、実験室や生産設備にも魅力的な選択肢となります。
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