中古 LEHIGHTON 1500-RS #293663340 を販売中

LEHIGHTON 1500-RSは、薄膜、基板、その他の半導体材料の正確で信頼性の高い測定を提供するように設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。厚み、表面粗さ、反射率などの電気特性を高精度に測定することができます。最先端のレーザー干渉計技術を使用して構築された1500-RSは、薄膜と基板をサブミクロン分解能まで測定するための強力なツールです。LEHIGHTON 1500-RSは、ウェーハ/材料とプローブとの間のインタフェースをテストに必要としない非接触光計測ユニットを使用しています。これにより、従来の接触計測に不可欠なウェーハとプローブの間にシールを形成する必要がなくなります。したがって、この機械は、回転基板上や制御不能な汚染物質の存在下など、さまざまな条件下で薄膜および基板を測定することができます。このツールは、ポリシリコン、窒化ケイ素、多結晶性酸化物、ゲルマニウム、ヒ素ガリウム、III-V化合物などの幅広い基質材料とも互換性があります。また、膜厚1500-RS 0。1nmまで測定できるため、サブミクロン薄膜や表面の測定に適しています。このアセットは、反射率の高い非金属表面や、重厚な質感とパターン化された材料のテストにも最適化されています。LEHIGHTON 1500-RSモデルは超高速の制御装置によって動力を与えられ、速度および正確さのいろいろな変数を測定できます。また、直感的なユーザーインターフェイスを備えているため、高度な測定シーケンスを簡単に設定およびプログラムできます。統合解析ソフトウェアは、グラフ、ヒストグラム、およびその他のデータ表現として可視化できる結果を迅速に分析および解釈することを可能にします。1500-RSは非常に強力で信頼性の高いウェーハ試験および計測システムであり、半導体デバイスの薄い基板の品質の評価、表面粗さの測定、電子薄膜の組成の評価など、さまざまな用途に適しています。このユニットは、優れた性能と精度を提供することが保証されており、薄膜や表面の迅速かつ正確なテストを可能にします。