中古 LANGFANG HAOBO DIAMOND LCP80N-C #9280300 を販売中

LANGFANG HAOBO DIAMOND LCP80N-Cは、大量生産環境向けに設計された洗練されたウェーハ試験および計測機器です。その機能と機能は、品質保証と高精度で複雑なテストソリューションの両方に最適です。LCP80N-Cには、さまざまな高度な試験および計測ツールが装備されています。主なコンポーネントは、半導体ウェーハおよびダイのさまざまなパラメータを測定するように設計されており、半導体の故障解析、プロセスおよびデバイスの特性評価、製品性能テストなど、幅広いアプリケーションに対応しています。このシステムには、高感度パラメータ用の高精度3D走査電子顕微鏡（SEM）とデジタルプローブステーション（DPT）、および空間分解能と地形のための高精度プログラマブル光学顕微鏡（POM）が含まれています。さらに、ウェーハテストのさまざまな側面を組み込んで包括的なデータセットを生成するように設計されたさまざまなソフトウェアモジュールを装備しています。LANGFANG HAOBO DIAMOND LCP80N-Cは、優れた精度と再現性で、幅広い非破壊検査と測定を行うことができます。電流の流れ、容量、抵抗、接触抵抗などの電気パラメータ、厚さ、結晶欠陥、ステップハイト、線幅などの構造パラメータを測定できます。このマシンは、柔軟で自動化されたデータ分析機能も提供します。ソフトウェアモジュールの組み合わせを使用LCP80N-Cと、対象地域から測定された異常を迅速に検出し、そのような障害の潜在的な原因を特定できます。全体的に、LANGFANG HAOBO DIAMOND LCP80N-Cは、ウェーハテストと計測のための強力なツールです。その高度なコンポーネントとソフトウェアモジュールは、精度と速度の優れたバランスを提供し、お客様がテストと計測設定を最大限に活用できるようにします。このツールを使用すると、顧客は最終的な結果に自信を持ち、製品の品質が最高のものであることを確信することができます。