中古 KLA / TENCOR VP 10 #9226132 を販売中

KLA/TENCOR VP 10ウェーハテストおよび計測システムは、半導体材料の評価と特性評価のための汎用性、高性能、および非常に正確な産業計測器です。KLA VP 10は、レーザー干渉計を使用して、ステップハイト、粒子構造、欠陥密度などのウェーハ表面の物理特性を測定する高度な渦電流検査ツールです。統合されたカメラベースの光学顕微鏡は、高解像度のプロセス監視と欠陥診断を可能にします。この機器は、高速データ分析とレポート機能を備えた自動運用に最適化されています。TENCOR VP 10の中心には、精密加工され、徹底的にテストされ、信頼性の高いレーザー干渉計があります。この干渉計は、高解像度のカメラアレイと結合された低コヒーレンスの単周波レーザーを利用しています。このシステムは、ウェーハ表面の光路長を測定し、非常に正確な地形プロファイルを提供します。VP 10のレーザー干渉計の利点は、フォトレジストやウェハ薄化プロセスなどの超薄膜や薄膜の特性を測定することです。ウェハテストのオールインワンソリューションとして、KLA/TENCOR VP 10は、さまざまな高度な計測ツールもサポートしています。これらのツールにより、重要寸法、欠陥密度、パターン特徴の均一性を高精度で測定できます。また、さまざまなサイズや形状のサンプルに簡単に対応できる幅広いサンプルホルダーを備えています。最後に、KLA VP 10の高度なデータ分析ソフトウェアは、複数のウェーハの包括的かつ正確な傾向分析を提供し、長さデータを分析し、製造コストを削減するための強力なツールを提供します。TENCOR VP 10は、高精度の測定と幅広い強力な測定ツールを提供する最先端のウェーハテストおよび計測ツールです。これにより、半導体デバイスメーカーからマイクロエレクトロニクス工場まで、さまざまな業界にとって理想的な機器となります。ウェーハや薄膜の物理特性を把握するための信頼性の高い効率的なツールであり、生産を最適化するあらゆるビジネスにとって貴重なツールです。