中古 KLA / TENCOR SFX 100 #293630198 を販売中

KLA / TENCOR SFX 100
ID: 293630198
ヴィンテージ: 2004
Thickness measurement system 2004 vintage.
KLA/TENCOR SFX 100は、高度な光学およびイメージング技術を使用して、高性能の半導体デバイスで使用される半導体の品質を保証する自動ウェーハ試験および計測機器です。ウェーハの表面形状を精密に3次元(3D)解析し、欠陥、材料特性、膜厚、非均一性などのデータを提供します。高度な高度なアルゴリズムを使用して、ナノメートルスケールまでの欠陥を識別および分類します。このシステムは、最先端の高感度検出器と幅広いレンズおよび格子技術を備えているため、さまざまな材料表面におけるフィーチャーサイズとプロファイルを測定することができます。さらに、独自のツールセットは、強力なハードウェアと高度なソフトウェアを組み合わせて、正確な結果を保証します。ユニットは、異なる波長で動作する2つの独立したレーザービームでサンプルをスキャンすることができます。レーザーは従来よりもはるかに高い精度を可能にし、ウェハ欠陥解析、欠陥計測、トポグラフィーマッピングに最適です。その高度なアルゴリズムは、他の多くのシステムよりも実質的に優れているナノメートルレベルまでの欠陥の検出と分類を可能にします。また、KLA SFX 100は、医療やデータストレージ市場など、さまざまな業界の計測に最適な機能を備えています。このマシンは、データ収集、分析、レポート作成のためのGUIと直感的なツールで構築されています。統合されたデータロガーとレポート生成ツールにより、ユーザーは迅速かつ簡単に是正措置のためのレポートを準備できます。この機能には、自動レポート機能と結果アップロード機能も含まれています。さらに、自動整列、限られた領域選択、複数のスキャンレイヤーイメージングなど、ツールに内蔵されている高度な分析機能を利用できます。TENCOR SFX 100は、高性能な半導体製品の優れた歩留まり、デバイス機能、および長期的な信頼性を保証する信頼性の高い資産です。
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