中古 KLA / TENCOR SFS 7700 #9134040 を販売中

KLA/TENCOR SFS 7700は、高度なデバイス特性評価のための一貫したウェーハレベルの結果を生成する比類のない精度、速度、信頼性を提供する高精度のウェーハテストおよび計測機器です。KLA SFS 7700は、単一の試験ステーションで薄膜および厚膜ウェーハ上のさまざまなパラメータを測定できるため、スループットの向上と生産歩留まりの向上につながります。TENCOR SFS 7700は、ウエハテストおよび計測アプリケーション向けに特別に設計された独自の堅牢に統合されたソフトウェアパッケージを搭載しています。高度なソフトウェアモジュールの高度なウェーハ解析および歩留まり向上機能により、ウェーハのパフォーマンスと信頼性の小さなバリエーションをすばやく特定し、データを活用するための生産プロセスを最適化できます。SFS 7700の多様なウェーハパラメータを正確に測定する機能により、他の試験および計測システムよりも高いスループット、低コストの精度、およびスループットの向上により、正確なウェーハおよびデバイスレベルのデータを迅速にキャプチャできます。高度なAIM （Automated Inspection Management）システムを使用すると、ユーザーは最大10個のレシピを確立して自動的に保存し、簡単にリコールおよび自動化された操作を行うことができます。KLA/TENCOR SFS 7700は、複雑で直感的な操作で競争力のある価格で画期的なパフォーマンスを提供し、再現可能な結果をもたらす迅速な起動を実現します。Scanning Electron Microscopeユニットは、操作が簡単なターンキー操作のための幅広い自動化機能をユーザーに提供します。さらに、このマシンは構成可能でクラスをリードする輪郭解析機能を備えており、ナノスケールの特徴を5nmの精度で測定することができます。KLA SFS 7700は、強化され統合されたインフラストラクチャを備えたウェーハテストおよび計測の業界標準を再定義し、これまでにないレベルの制御、柔軟性、精度をユーザーに提供します。データ収集の強化、並列化のサポート、スケジューリングの最適化の改善などにより、ユーザーは問題の根本原因を正確に特定できるようになりました。