中古 KLA / TENCOR SFS 7600 #9159253 を販売中

ID: 9159253
ヴィンテージ: 1996
Laser particle counter OS: WinNT 1996 vintage.
KLA/TENCOR SFS 7600は、最新のウェーハ試験および計測機器です。半導体ウェーハの微細構造、電気、熱特性の試験および分析に使用できます。このシステムは、測定、分析、およびデータ可視化モジュールを含む一連のモジュールで構成されており、顧客の仕様に従って構成することができます。このユニットには、オペレータ機能に使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)と、データ転送と制御のための高効率オートメーションマシンが含まれています。このツールはまた、測定および分析アルゴリズムの強力なライブラリを提供し、非専門家ユーザーが測定テストと分析操作を迅速かつ正確に実行できるようにします。これらのモジュールはすべて、高い精度と一貫性で動作するように設計されており、半導体業界の品質保証専門家にとって理想的な選択肢となっています。KLA SFS 7600は、AFM、光学顕微鏡、FTIRイメージングシステムなどの複数の接触計測器および非接触計測器を統合しています。最大精度0。5 nmの200mmから10cmまでの幅広いウェーハサイズを測定できます。また、測定プロセスの環境を監視するために、温度、湿度、傾きなど、さまざまな統合センサを備えています。これらの機能に加えて、TENCOR SFS7600にはSmartQCやSmartAlignなどのさまざまなデータ収集ツールやソフトウェアモジュールがあります。SmartQCモジュールは重要な計測パラメータの測定を自動化し、SmartAlignモジュールはテスト前にウェーハを調整するプロセスを簡素化します。このモデルには、データ分析と可視化のための強力なオプションも含まれています。粒度、粒度分布、表面テクスチャなど、さまざまなメトリクスで2Dまたは3D画像を生成できます。全体として、SFS7600は精度と品質保証のために設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。半導体ウェーハの様々な特性を測定・分析し、その結果を管理・分析・可視化する機器やツールを幅広く提供しています。このシステムはまた、使いやすく、個々の顧客の要求に適応できるため、半導体業界の専門家にとって理想的な選択肢となります。
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