中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX UV 1250SE #9095212 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX UV 1250SE （1250SE）は、半導体メーカー向けに設計されたウェハテストおよび計測機器です。高速なウエハマッチングが可能な高効率で先進的なシステムで、高性能・高精度を要求される業界にとって貴重なツールとなります。1250SEは、高度にモジュール化されカスタマイズ可能なウェーハテストユニットです。自動化された試験および計測機械は、ウェーハ試験の信頼性とスループットに革命をもたらすように設計されています。このツールは、ウェーハ性能の段階的な変化であり、豊富な情報を正確かつ迅速にソートして処理することを可能にする幅広いパラメータを測定します。この1250SEは、測定パラメータの最適化により、さまざまな欠陥を検出するように設計されています。このアセットにより、ユーザーは各試験を目的の結果に合わせてカスタマイズし、異物、汚染物質、ライントポロジ、平坦性などの欠陥を特定できます。この1250SEは高度な粒子光学モデルを利用しており、欠陥パターンや歪みパターンをさまざまな方法で解析することができます。これにより、同じ時間内に測定回数を増やすことができるため、他の多くのモデルに固有の機器となります。この1250SEにより、現在のウェーハ技術で発生する可能性のある高度な問題の最新の分析も可能になります。このシステムは、パティクル破片、薄膜亀裂、バンプ、および誘電表面欠陥をすべて同時に検出することができます。これは、自動補正と解析アルゴリズムの組み合わせによって可能です。これらのアルゴリズムは、ユーザーに高精度の測定結果を提供します。さらに、この1250SEには、デュアルステージの精密ステージと強化された半導体イメージング技術が装備されています。この機能の組み合わせにより、2D、 3D、 QFN、マルチレイヤー、およびCSPのウェーハおよびダイスキャンを容易にする優れた画像取得機能を提供します。また、デュアルステージの精密ステージにより、ダイ全体の高解像度検査が容易になり、非平面特性の解析が可能になります。この1250SEは、信頼性、正確性、タイムリーな測定を要求する半導体メーカーにとって理想的な選択肢です。このユニットの強力な光学エンジン、ハイエンドイメージング機能、高度なテストアルゴリズム、およびデュアルステージの高精度ステージにより、あらゆるウエハテストアプリケーションに最適です。小規模な欠陥や大規模な機能を検出しているかどうかにかかわらず、1250SEはユーザーに数分で信頼性の高い結果を提供します。