中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-75 #9172359 を販売中

ID: 9172359
Resistivity mapping system.
KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-75は、最先端の半導体デバイス製造を可能にするように設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。高度なアルゴリズムと高度な自動化技術を駆使し、高度な半導体製品の分析特性評価のための複雑な測定プロセスを容易にします。KLA RS75は、低レベルのエネルギー消費で高いスループットと精度で動作します。特許取得済みのSixAxisTM測定技術と複数の高度な信号処理アルゴリズムを組み合わせて、ユーザーに正確なサンプル測定を提供します。このユニットは、一般的な電気測定から複雑な応力試験まで、さまざまなウエハテスト用途に使用できます。このマシンは12。5〜μ mの光学テストヘッドで構成されているため、シリコンウェーハ上の小さな機能のテストに最適です。検出範囲は0。5〜3。5mmで、ミクロンスケール試験の強化が可能です。さらに、このツールは、ポリイミド、カプトン®、エポキシ、スピンオンガラス(SOG)、および敏感な半導体デバイスに使用される他の材料など、さまざまな基板材料と互換性があります。また、静的非接触測定を可能にするアンチスティックアルゴリズムも内蔵されており、ユーザーは敏感なサンプルをテストする際に信頼性と精度を高めます。TENCOR RS 75には強力なイメージングアルゴリズムと3D計測機能が搭載されており、より迅速な納期で高精度なサンプル分析が可能です。このアセットは欠陥検査を行うことも可能であり、超小型試験場でのダイダイ異常や異常を検出することができます。さらに、フルオートメーション機能により、直感的でユーザーフレンドリーなオペレーティングモデルを提供するため、構成と使用が容易になります。全体として、RS 75は半導体製造業界のリーダーに最適な効果的なウェーハ試験および計測機器です。高度なSixAxisTM測定技術に加え、正確なサンプル測定のためのインテリジェントイメージングアルゴリズムと3D測定機能を備えています。このシステムは、完全自動化機能により、構成と使用が容易になり、欠陥を迅速かつ正確に検査することもできます。
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