中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-75 #293600178 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-75ウェーハテストおよび計測機器は、さまざまな革新的で高度な機能を提供します。KLA RS75は、ダイレベルとウェハレベルの両方の検査と計測を行うことができ、完全なマイクロエレクトロニクス構造を原子レベルまで分析することができます。TENCOR RS 75システムは0。2ミクロンの高精度光学分解能を搭載しており、高い忠実度と精度で特徴を測定することができます。赤外線（IR）検出器や複数の陰極発光検出器など、あらゆる波長や検出器にわたる測定が可能です。高解像度のRS75は、集積回路や薄膜トランジスタなどの極薄ウエハの検査・測定に最適です。KLA/TENCOR/PROMETRIX RS75は、厚さ、幅、高さなどの幅広い物理特性、および抵抗や容量などの電気パラメータを測定することができます。製造工程で使用される特定の金属、酸化物および他の材料を含むサンプルの材料組成を点検し、測定するのに使用することができます。さらに、RS 75は、様々な環境条件によって引き起こされる腐食、酸化などの現象の測定にも使用できます。また、欠陥検出・特性評価、粒界解析、自動欠陥分類、テープアウト可視化、半導体プロセスモデリングなど、幅広い二次解析が可能です。また、結果をレビューして障害モードを特定するために使用できる自動テストレポートと結果ファイルを生成することもできます。RS-75マシンはまた、デバイスの簡単なプログラミングと制御を可能にするユーザーフレンドリーな制御ソフトウェアインターフェイスを提供します。これにより、アプリケーション要件の変更に合わせてツールのパラメータを素早く調整できる柔軟性をユーザーに提供します。PROMETRIX RS 75アセットは、高精度のウェーハテストと計測に最適なソリューションです。様々な物理的および電気的特性を迅速、正確、確実に測定することができ、変化するアプリケーション要件に合わせてモデルのパラメータを簡単に調整できる柔軟性を提供します。TENCOR RS75は、高分解能で幅広い二次解析を行うことで、マイクロエレクトロニクスデバイスの製造に関わる複雑な製造プロセスを理解し、調整するための強力で有用なツールです。