中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-50e #119864 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-50eは、半導体および光電子デバイス製造用に設計されたウェーハ試験および計測機器です。高速、正確、堅牢な半導体品質保証テストを可能にする自動プラットフォームです。このシステムは、シリコンウェーハ欠陥レビュー、ウェーハエッジイメージング、オーバーレイ測定、ウェーハマッピングなど、さまざまなアプリケーションに適しています。KLA RS-50eユニットは、高解像度カラーCCDカメラを搭載し、画像処理や解析に最新技術を使用しています。高速イメージングを実現し、高速スキャン速度で高解像度の画像をキャプチャできます。高度なオンボードデータ収集技術と強力なソフトウェアアルゴリズムにより、迅速なデータ収集と分析が可能です。TENCOR RS-50eには、正確で信頼性の高い測定を提供するように設計されたさまざまな高度な計測および検査ツールが装備されています。電子後方散乱回折（EBSD）、光散乱回折（LSD）、レーザー回折（LD）、分光（S）、選択領域電子回折（SAED）、ラマン分光（RS）などがある。このツールは、ウェハレベルの欠陥検査を自動化することもできます。RS-50eは、効率的で信頼性の高い操作を容易にするいくつかの機能を提供します。これらの機能には、交換可能なISER（統合ソフトウェアと電子リソース）が含まれ、特定のアプリケーションに合わせて調整できます。このアセットは、ユーザーフレンドリーなソフトウェアとユーザー固有のパターンも提供しており、ユーザーは一般的なウェーハの欠陥を迅速かつ簡単に分析して特定することができます。PROMETRIX RS-50eのソフトウェアは、最も厳しい性能と品質要件を満たすように設計されています。高度なアルゴリズムにより、低ノイズレベルの高速画像処理と解析が可能です。このソフトウェアにより、ユーザーはデータの保存と管理、レポートの作成、3Dビューの生成も可能になります。全体として、KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-50eは、最も要求の厳しい半導体および光電子デバイス製造アプリケーションを満たすように設計された、強力で信頼性の高いウェーハ試験および計測モデルです。高度なイメージングと検査機能、ISERとユーザーフレンドリーなソフトウェアを組み合わせることで、あらゆるウェハ品質保証テストに最適なソリューションです。