中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-100C #293765567 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-100Cは、広範囲の半導体材料と基板を高速かつ正確に測定できる自動ウェーハ試験および計測装置です。KLA RS-100Cは、さまざまな独自技術を活用して、製品のコンプライアンスを確保するための測定および試験ソリューションの完全なスイートを提供します。TENCOR RS-100Cは、光子走査顕微鏡（PSM）および光散乱イメージング（LSI）を使用して、表面計測サンプル上のナノスケールの特徴を表示、検出、測定します。PSMとLSIにより、高解像度のさまざまな機能サイズと密度を検出できます。PROMETRIX RS-100Cはまた、深度プロファイリング、曲率評価、平面度などのトポロジー測定の速度と精度を向上させるために、高度な光学イメージング手法を使用しています。RS-100Cは、最新の光学およびナノスケール測定技術を提供し、幅広い試験および測定を完了します。このユニットは柔軟なプラットフォーム上に構築されているため、お客様固有のニーズに合わせてテストを行うことができます。さまざまな技術を組み合わせることで、試験と測定を迅速かつ正確に完了することができます。このツールは、データの収集と処理に自動化されたプログラムを使用して、迅速な結果とデータ分析を提供します。KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-100Cは、グラフィカルと数値の両方の形式でユーザーにフィードバックを提供します。ユーザーは素早く設定を調整し、アセットから最適な測定値を得ることができます。KLA RS-100Cは、材料の適合性と品質を評価する上で非常に重要なエッジやコーナーなどの高精度の低次元フィーチャーを自動的に検出することができます。また、表面層の欠陥を検出し、薄膜の厚さを高精度に測定することも可能です。TENCOR RS-100Cは、Si、 SiGe、 III-V化合物、金属、II-VI化合物、酸化物、窒化物、誘電体、ポリマーなど、さまざまな半導体材料および基板と互換性があります。装置もスケーラブルなので、さまざまな寸法距離の基板やナノスケール材料に使用できます。PROMETRIX RS-100Cは、効率と生産性のために設計されています。その高度な試験および計測機能は、さまざまなサンプル条件にわたって高い精度で信頼性の高い再現性のあるデータを提供します。さらに、このシステムは使いやすさのために設計されており、直感的なインターフェイスをユーザーに提供して、測定に素早くアクセスして管理することができます。RS-100Cは、さまざまな半導体材料および基板に包括的な試験ソリューションを提供する、信頼性の高い正確な自動ウェーハ試験および計測ユニットです。その高度な機能により、機械は効率、生産性、および費用対効果のために設計されています。