中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9394908 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20Hは、半導体産業のために開発されたウェーハ試験および計測機器です。電気試験、レーザー誘導分光法、リアルタイムウェーハ薄型化など、さまざまな自動試験および計測機能を提供する汎用性の高いプラットフォームです。このシステムの中核は、高度な自動光検査（AOI）ユニットに基づいており、高度な光学および電気センサの特性を活用した高度なウエハテスト機能を備えています。このプラットフォームは、チップレベルで非常に微妙な欠陥を検出することができ、高い製品品質を確保し、欠陥のあるチップにつながる可能性のある欠陥を検出するために重要です。KLA P-20Hは、従来のウェーハテストおよび計測システムでは容易には得られない高度な機能を提供します。レーザー誘発型破壊分光法（LIBS）機能により、ウェーハ材料の正確な元素分析を自動化され、再現可能な方法で提供します。リアルタイムウェーハの薄型化機能は、ウェーハに大きな欠陥があることを識別するプロセスを簡素化し、高度な電気試験機能は、機械がそれらを見ることができない場合でも存在する可能性のある欠陥やショートを検出することができます。このツールには、さまざまなサンプルタイプとテストパラメータを処理するための幅広いカスタムアプリケーター方法も含まれています。標準的なサンプルサイズまたは特別なテスト要件を処理するために、さまざまなロボット構成を使用できます。これらの機能により、TENCOR P20Hはウェハテストと計測のための信頼性の高いツールとなり、多くの半導体企業が製造プロセスに必須と考えています。標準機能に加えて、PROMETRIX P20Hには、データ収集および信頼性確認（DRC）アセットなどの高度な機能も搭載されており、電気機器の定期的なテストで品質を評価できます。さらに、専用の光レシーバやチップ周波数モニタなど、さらなる拡張のためにさまざまなモジュラーアップグレードを購入することができます。これらのアップグレードにより、KLA/TENCOR/PROMETRIX P20Hの機能がさらに強化されます。全体として、P-20Hは最先端のウェーハテストと計測モデルであり、高度な機能と機能の範囲で際立っています。高信頼性のハードウェアおよびソフトウェアコンポーネントにより、チップ製造の初期段階での微妙な欠陥や欠陥の特定を支援し、自動化された正確で再現性のあるテストを提供します。