中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9252879 を販売中

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ID: 9252879
Long scan profiler With electronic cabinet.
KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H装置は、半導体産業のために特別に設計されたウェーハ試験および計測システムです。KLA P-20Hは、ウェーハ製造プロセス中の半導体ウェーハの電気的および物理的特性を測定するために使用されます。TENCOR P20Hは、ウェーハの電気的および物理的特性を決定するために、さまざまなイメージングおよび測定技術を使用しています。20倍ズーム機能を備えた光学顕微鏡と高解像度CCDカメラを備え、ウェーハの表面イメージングと分析を強化します。この顕微鏡を通して、精密測定と欠陥イメージングを行うことができます。また、3Dトポグラフィー測定ユニットを使用して、非接触3Dマッピング機能も高度に備えています。この機械は自動測定のための統合された自動段階を特色にする詳しく、一貫した、正確な表面の地形図のプロフィールを作り出すことができます。P20Hには、クリティカルレイヤーやオーバーライティングフィルムの計測、シート抵抗の測定、回路部品のプロービング、塊と分散元素のプロービング、IV試験などの幅広いプロセスツールが含まれています。ウェハマップ解析(WMA)、ウェハレベルのダイソートソート(WLD)、ウェハアウトリエ検出(WOD)、ウェハハンドリングのロード/アンロードなど、さまざまな分析ツールが付属しています。PROMETRIX P-20Hにはデータロギングとディスプレイ機能が内蔵されており、テスト結果をリアルタイムで保存および表示できます。これにより、迅速かつ正確なデータ分析とフィードバックが可能になり、ウェーハ製造プロセスの最適化が容易になります。また、例外イベントが発生したときにオペレータに通知する診断アラーム機能も備えています。P-20HにはWindowsベースのGUIインターフェイスが付属しており、1つの統合プラットフォームからツールのすべてのコンポーネントを簡単に操作および監視できます。また、Python、 MATLAB、 Visual Basic、 C++などのさまざまなプログラミング言語もサポートしています。このアセットは、リアルタイムのデータアクセスをサポートし、グラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)コンポーネントの広範なカスタマイズを提供します。KLA/TENCOR/PROMETRIX P20Hは、優れた機能と機能を備えた高度なウェーハテストおよび計測モデルです。幅広い機能を備えた信頼性の高い効率的な機器であり、多くのウェハ製造プロセスに適しています。
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