中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9150863 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20Hは、半導体ウェーハの正確かつ正確な測定および分析を提供するように設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、空気圧式のパターン認識ステージを備えており、正確なテストとスキャンのためのウェーハの自動アライメントを保証します。また、ウェーハスキャンおよび試験要件において非常に精密なモーションコントロールを実現できる高速4軸ポジショニングユニットを搭載しています。さらに、このマシンは、ウェーハサイズと構成の多様性を許容するように設計されており、ウェーハ表面のさまざまな領域からデータを収集することができます。KLA P-20Hツールには、膜厚測定、ウェーハ反り測定、抵抗測定、接触抵抗測定、ウェーハエッジ測定、イメージングなど、さまざまな計測オプションが含まれています。また、粒子スキャン、トポグラフィ解析、ストレスマッピングなど、より詳細なテストと分析のためのさまざまな追加測定オプションも備えています。検査エリアは最大32個の6インチウェーハを収容でき、迅速かつ同時に検査およびスキャンすることができます。アセットのユーザーインターフェイスは、操作を容易にし、直感的なセットアップと監視を容易にするように設計されています。さらに、このモデルはリモートで動作し、他の制御システムと統合することができます。ユーザーインターフェイスは、故障ポイントの検出にも迅速かつ正確に調整されています。データログの収集とウェーハの位置の測定を可能にし、より詳細な分析と結果の報告を行うことができます。TENCOR P20H装置は、可能な限り最高のスループットレートでも信頼性の高い正確な試験および測定結果を提供するように設計されています。また、ウェーハテストを安全かつ確実に実施するための高度な安全機能を備えています。さらに、ISO 9000規格を満たすように構築されているため、収集および処理されるデータのトレーサビリティが向上します。全体として、KLA P20Hウェーハテストおよび計測システムは、半導体ウェーハから正確なテストとデータ収集を行うための強力で信頼性の高いツールです。直感的なユーザーインターフェイスとさまざまなテスト機能により、高スループットレートで詳細かつ正確なデータを必要とするあらゆるアプリケーションに最適です。