中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-75 #9115873 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-75は、強力で正確なウェーハ試験および計測機器です。自動メトロロジーシステムであり、高い精度で包括的な測定、分析、レポート機能を提供します。半導体ウェーハのプロファイル、表面仕上げ、寸法特性を測定、分析し、その結果を詳細に検査レポートを提供するように設計されています。KLA Omnimap RS-75は、ウェーハリソグラフィ、ウェーハプロービング、パーティクルカウント、ギャップ解析、エッジ解析、臨界寸法（CD）測定に最適です。光学顕微鏡、走査型電子顕微鏡（SEM）、散乱計、ドロップサイズアナライザ、キネマティックフィールドオブビューセンサーなど、個々の試験および計測要素を備えた統合ユニットです。これらの要素は、効率的で高精度な構成で組み合わされており、個々のウェーハおよびプロセス品質を迅速に評価するために使用できます。このマシンの高解像度イメージング機能により、ウエハ機能の詳細なイメージングが可能になります。さらに、視野が広いため、複数のウェーハを一度に完全にテストすることができます。SEMは高倍率であり、10ナノメートルのサイズの特徴の詳細な分析に使用することができます。精密散乱計は、ウェーハの厚さの小さな変化を検出することができ、ドロップサイズアナライザは粒子のサイズと形状の微小な変化を研究することができます。キネマティックフィールドオブビューセンサは、ウェーハ間の比較のための正確なサイズ測定を提供します。TENCOR OMNIMAP RS75には、テストおよび計測プロセス中に収集されたデータを迅速に評価および解釈できる包括的なデータ分析パッケージが含まれています。このツールは、詳細なグラフィックとレポートを生成し、ウェーハの処理とパフォーマンスについての洞察を提供します。データは、プロセスの最適化と特性評価にも使用できます。PROMETRIX OMNIMAP RS75は堅牢で信頼性が高く、直感的なユーザーインターフェイスによりセットアップと操作が簡単です。このアセットはカスタマイズ可能であり、ウェーハテストおよび計測プロセスの要件に応じて、幅広いニーズを満たすように構成することができます。精度、速度、信頼性の組み合わせにより、PROMETRIX Omnimap RS-75ウェーハテストと計測に最適です。