中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-55TCA #293605681 を販売中
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ID: 293605681
ウェーハサイズ: 8"
Resistivity mapping system, 8"
Wafer handler
Cassette to Cassette Measurement
3-D Plots
Contour Maps
Compensate sheet
Ambient temperature and materials TCR
Manuals included
Power supply: 115 V, 50/60 Hz.
KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-55TCAは、高速光学検査とウェハレベルの欠陥検査を提供するように設計されたウェハテストおよび計測機器です。このシステムは、モジュール式のロボットプラットフォームで構成されており、最適な柔軟性を提供します。このユニットは、イメージングレンズ、画像強度(モノリシックまたはモジュラー)、光源、高度な照明ツールを備えた最先端のビジョンマシンを使用しています。このコンポーネントの組み合わせにより、さまざまな種類のウェーハのイメージング機能と精度測定が可能になります。アセットは、高度な光学イメージング技術とアルゴリズムを使用して、一度に最大2,50mmのウェーハ材料を検査できます。このモデルはまた、高解像度のイメージングとカスタマイズされたサンプリングおよびエラー検出レベルにも対応しています。この装置は、通常のウェーハ試験および計測に使用できるほか、高度な材料分析のためのイメージングおよびプロービングサービスを提供することができます。高速計測スキャン技術により、ウェーハの破損を必要とせずにリアルタイム測定が可能です。この技術は、ローカライズされた損傷やウェーハ表面の他の機能を検出するためにも使用されます。ロボティクスの統合により、KLA OMNIMAP RS-55/TCAは、さまざまな種類の欠陥を検出するために使用できる、迅速かつ正確なビジョンベースの測定を可能にします。さらに、シリコン、ガラス、金属、セラミックスなどの様々な材料を手動で自動検査することができます。このユニットは、JPEG、 TIFF、 PNGなどのメディア形式だけでなく、高品質の画像処理、前処理、後処理を提供するように設計されています。イメージングにより、角度、傾き、深さ、サイズなどのさまざまなパラメータをローカライズして表示できます。このマシンには、リアルタイムの欠陥認識と特性評価、およびレポート、注釈、および追跡を提供する高度なソフトウェアが装備されています。また、サンプル特性の自動マッピング、分析、レポートもサポートしています。このツールは高度にカスタマイズ可能で、各サンプルタイプの特定の目的を可能にします。TENCOR OMNIMAP RS-55TC/Aは、信頼性が高く、初期設定から最終レポートまで、超高精度を提供する包括的な資産です。生産作業、研究、および先端材料分析の高度な要件を満たすことができる結果を保証します。
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