中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-55 #9078008 を販売中

KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-55
ID: 9078008
ヴィンテージ: 1997
Resistivity Mapping Systems, 1997 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-55は、半導体業界で幅広い用途に使用される汎用性の高いウェーハ試験および計測機器です。最先端の技術を搭載し、高精度で信頼性の高い結果を提供し、プロセスの生産品質と効率を保証します。KLA Omnimap RS-55は、大容量チップ測定およびプロセス制御用に特別に設計されています。広視野測定や広域、高解像度マッピング測定など、高度なイメージングと光検査機能を備えています。このシステムの広い面積測定機能は、ウェーハ表面の幅広いパラメータを測定する必要がある場所で高い生産性とスループットを提供します。また、最大の柔軟性を提供し、ユーザーは、特定のアプリケーションにデータ収集プロセスを調整するために、低コスト、低速スキャンと高速スキャンの間で選択することができます。TENCOR Omnimap RS-55で使用するイメージングオプティクスは、アプリケーションのニーズに合わせて選択でき、サイト、エリア、ライン、ウェハーマッピングなどのさまざまなイメージングモードから選択できます。このイメージング機能は、オートフォーカス、自動エッジ検出、ビーム監視、非接触3Dサーフェスプロファイリングなどのウェーハ測定の処理を容易にするためのさまざまな機能で強化されています。これにより、ユーザーは個々のウェーハ特性を一貫して正確に測定できるように、適切な機能を提供します。精度に関しては、PROMETRIX Omnimap RS-55は、1ミクロンの精度定格で高精度の測定および分析機能を提供し、ウェーハの微小およびナノスケール構造および特性の特性を高精度に評価することができます。また、低ノイズの光学セットアップと非接触試験および測定用の高度なアルゴリズムを備えており、スタイラスやプローブ接触を必要とせずに信頼性の高い結果を保証します。このユニットは高度に構成可能であり、生産性を高めるために複数のウェハサイズのローディングシステム、より高い精度のための高解像度の光学系、および性能を向上させるためのアップグレード可能なスキャン技術など、プロセスのニーズに応じてさまざまなオプションを選択できます。高精度で構成可能なOmnimap RS-55は、プロセス制御と大量チップ測定に最適な機械です。
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