中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-100 #9174128 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-100 Wafer Testing and Metrology Equipmentは、最新の半導体デバイスのテストと特性評価のために設計された先進的なツールです。このシステムは、最先端の光学系、高速プロセッサ、精密なハードウェアを使用して、デバイスの性能と信頼性を正確に測定します。このユニットは、最適化された光学測定サブシステム、高解像度イメージングサブシステム、高精度アクチュエータサブシステムで構成されています。光サブシステムには、低ノイズレーザー源、高速リニアモータ、および正確なウェーハ定量アルゴリズムが含まれています。これにより、低ノイズレベルの高解像度ウェーハの正確なプロファイリングが可能になります。イメージングサブシステムには、高解像度カメラ、高度な画像処理アルゴリズム、および正確なサンプル計測ツールが含まれています。アクチュエータサブシステムは、高速マテリアルハンドリングと精密なモーションコントロールのために、さまざまなマイクロアクチュエータとサーボモータを採用しています。KLA Omnimap RS-100は、高速で高精度なウェーハテストと計測が可能です。高度なビジョンと測定ソフトウェアを搭載しており、複数のプログラム可能なオーバーラップビューポイントと設定を可能にします。このマシンは、問題のウェーハの厚さ、重大な寸法、表面粗さ、および複数の材料特性を取得して分析する機能を備えています。この情報を使用すると、歩留まり情報を迅速に決定でき、マイクロプロセッシングの問題と根本原因評価を迅速に特定できます。このツールには、現場での検査、リアルタイムの視覚化、カスタマイズ可能でアップグレード可能なプロービング技術、および精密で信頼性の高い生産品質管理のためのその他の多くの機能も含まれています。RS-100はまた、完全なトレーサビリティとドキュメント機能を提供し、データおよびプロセス指標を顧客が完全に管理できるようにします。TENCOR Omnimap RS-100は、半導体ウェーハテストと計測のための高精度な測定を提供する強力で汎用性の高い資産です。このモデルは、複数のサブシステム、高度なビジョンと画像処理アルゴリズム、および正確なモーションコントロールを活用して、生産と歩留まりを大幅に改善するために使用できる信頼性と再現性の高い結果を提供します。