中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX NC 110 Omnimap #69367 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX NC 110 Omnimapは、半導体ウェーハの試験および計測用に設計された洗練されたツールです。この機器は幅広い機能を備えており、高度なウェーハテストと計測を実行する業界の専門家に最適です。KLA NC 110 Omnimapシステムは、完全に統合された最先端のコンピュータユニットを搭載したTomoVisionTM max_chromaイメージング技術を搭載したKLAイメージングプラットフォーム上に構築されています。TENCOR NC 110 Omnimapは、高解像度イメージング機能を利用して、広範囲のウェーハ上の表面汚染と欠陥粒子の両方を検出および測定するように設計されています。また、4波長楕円測定、トポグラフィ、分光などの高度な光学機能も備えています。また、ウェーハ上の極薄膜の厚さを測定することができ、ウェーハ計測のための強力かつ高精度なツールとなっています。NC 110 Omnimapアセットは、使いやすさと効率性を高めるために、さまざまなユーザーフレンドリーな機能と直感的なソフトウェアで設計されています。このモデルは外部システムにリンクすることができ、ユーザーは複数のツールから測定データを追跡、保存、比較することができます。さらに、統合されたソフトウェアパッケージは、データレポートや分析ツールに迅速かつ簡単にアクセスできます。これにより、ウエハ製造および品質管理に最適なソリューションとなります。PROMETRIX NC 110 Omnimap装置も信頼性が高く、リモート診断とトラブルシューティングをサポートしています。また、小さな欠陥を検出し、非破壊検査を行うことができるため、幅広い用途に適しています。高度な機能セットと強力な検出機能を備えたKLA/TENCOR/PROMETRIX NC 110 Omnimapは、高精度のウェーハテストと計測が必要な業界に最適です。