中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX M-Gage 300 #9151441 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX M-Gage 300は、半導体試験および計測において最も困難な要求を満たすように設計されたウェハテストおよび計測機器です。線幅、穴径、サイドウォール角などの個々のデバイス特性の寸法をさまざまな半導体ウェーハで測定するために使用されます。KLA M-Gage 300は、カスタマイズ可能なソフトウェアプログラミングプラットフォームを備えており、ユーザーは自分のニーズとシステムの物理的な制限に合わせてテストソリューションを設計することができます。計測ソフトウェアを搭載しているため、デバイスの特性を高速・高精度に正確に測定・分析することができます。また、TENCOR M-Gage 300には、幅広いウエハサイズや素材に対応できる高精度・高速ウェハステージが搭載されています。また、統合されたプローブヘッドと、既存の検査装置や試験装置に簡単に統合できるコンパクトなツールを備えています。M-Gage 300は、0。5マイクロメートルの解像度で、最大2。75mmの機能を測定することができます。資産の精度は印象的な0。03マイクロメートルです。1時間あたり最大200個のウェーハ速度で動作し、高度なアルゴリズムを使用してさまざまな欠陥を検出します。このモデルは、粒子サイズ、傾斜角度、ウェーハエッジ評価などのウェーハ検査パラメータの包括的なセットを含む、計測設定の範囲を提供します。PROMETRIX M-Gage 300は、ユーザーがテストを素早くセットアップできる使いやすいインターフェイスを備えており、ほとんどのPCと互換性があります。統合されたネットワーク機能とフルカラーのタッチスクリーンインターフェイスを備え、周辺機器と接続して精度を高めます。装置はまた、より高度なテストと分析のための周辺機器の幅広い選択に接続することができます。KLA/TENCOR/PROMETRIX M-Gage 300は、半導体試験および計測の厳しい要求に応えるように設計された強力なウェーハ試験および計測システムです。その高精度、精度、スピードにより、ユーザーは毎回正確で信頼性が高く、繰り返し可能な結果を得ることができます。さらに、使いやすいインターフェイス、幅広い互換性、計測設定の範囲により、このウェーハテストおよび計測ユニットは、半導体テストと計測のニーズに最適です。