中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX M-Gage 300 #9105990 を販売中

KLA / TENCOR / PROMETRIX M-Gage 300
ID: 9105990
Non-contact wafer monitor.
KLA/TENCOR/PROMETRIX M-Gage 300は、最先端のウェーハ試験および計測機器です。ウェーハ製造に不可欠な測定・検証サービスを提供し、半導体製造プロセスに不可欠な要素となっています。初期ウエハから完成品まで、複数のプロセスパラメータを測定、分析、表示、制御できます。KLA M-Gage 300は、高度なウエハテストと計測機能を提供します。OSM(光学散乱場顕微鏡)技術とMWE (Multi-wavelength ellipsometry)を組み合わせたCritical Dimension (CD)測定を提供しています。スチール、非鉄材料、石英/セラミック、有機ポリマーなどのウェーハ材料の高分解能測定が可能です。また、ウェーハの検査・測定を行うためのフルフィールドハイスピードイメージングも可能です。Advanced Polarization Module (APM)を使用して、ウェーハの地形の非常に詳細な表面画像をキャプチャし、詳細な欠陥の特性評価を可能にします。また、ウェーハの欠陥を検出し、精度を向上させるソフトウェアも搭載しています。また、TENCOR M-Gage 300は、高度なスペクトル解析技術を使用し、製品の最適化と特性評価のためのリアルタイムデータ解析を提供します。このツールの高度な性能により、ユーザーは高スループットのアセットを構成し、プロセスに起因する機械的ストレスやウエハの歪みを正確に測定することができます。PROMETRIX M-Gage 300は、直感的なユーザーインターフェイス、自動ウェーハローディングモデル、高度な計測機能など、包括的な機能を提供します。幅広い生産環境で使用できるように設計されており、高精度、高精度、再現性を備えた効率的で費用対効果の高いウェーハテストと計測を可能にするように設計されています。この高性能ウェーハ試験および計測機器は、あらゆるウェーハ製造施設に不可欠なサービスを提供します。その機能は、製品の最適化と製造プロセス制御の改善につながる高度な機能を提供します。M-Gage 300システムを使用すると、製造者は時間外配達のための重要な要件を満たしながら、収量を増やし、コストを削減することが期待できます。
まだレビューはありません