中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX FT-650 #293646045 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX FT-650は、半導体業界で広く使用されている最先端のウェーハ試験および計測機器です。KLA FT-650は、革新的な光学イメージング機能を備えており、単一の製品スキャンでさまざまなメトリック値を迅速かつ非接触で測定できます。半導体化合物材料、誘電体フィルム、ピンホールが付いたフィルム、金属膜およびその他の薄膜材料を基板上で迅速かつ正確に試験および特性評価することができます。TENCOR FT-650は、マルチレベルデータム、光学多重化、非接触ベースのマルチチャネルトポグラフィ測定、自動パターン認識など、ウェーハテストを最適化するための高度な機能を提供します。さらに、FT-650システムの光学的セットアップにより、ユニット上のさまざまな場所で複数のウェーハを同時に測定することができます。PROMETRIX FT-650は、高度な3D光学顕微鏡システムを使用して、基板上のさまざまな顕微鏡の特徴を測定および分析します。KLA/TENCOR/PROMETRIX FT-650によって生成された3D光学画像は、ソフトウェアの組み込みの高度なパターン認識機能によってさらに分析することができます。この機能により、非常に高速で正確なウェーハ識別と分類が可能になります。機械の高精度と再現性により、薄膜計測用途に適しています。KLA FT-650は、薄膜特性評価、ウェーハ反り測定、膜厚測定、デバイス特性評価などの薄膜計測アプリケーションに最適です。TENCOR FT-650ツールは、高解像度の画像を使用して、基板上の小さな特徴を正確に識別し、特徴付けることができます。FT-650資産のデータ出力はユーザーフレンドリーで、さまざまな業界標準フォーマットと互換性があります。PROMETRIX FT-650は、後でレビューするためにタイムスタンプされたデータをエクスポートしたり、サードパーティの計測ソフトウェアパッケージに統合する機能をユーザーに提供します。収集されたデータは、さらなる分析や、Failure Analysis （FA）やYS （Yield Improvement）などの下流の製品開発プロセスで使用できます。全体として、KLA/TENCOR/PROMETRIX FT-650は、単一の製品スキャン内で迅速かつ正確な測定を可能にするように設計された高度なウェハテストおよび計測モデルです。3D光学顕微鏡システム、自動パターン認識、データ出力と業界標準フォーマットとの互換性などの高度な機能を備えたKLA FT-650は、薄膜アプリケーションと分析にとって貴重なツールです。