中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX AIT I #9221583 を販売中

ID: 9221583
ウェーハサイズ: 6"-8"
Patterned wafer inspection system, 6"-8" Double darkfield inspection tool SECS II/GEM Communication interface Low contact chuck (AIT I) Multi channel collection optics system with independent Programmable spatial filters Pentium CPU with Windows NT installed Wafer transfer area housing cover Wafer handling module High voltage electronics Front / Rear EMO’s with covers Flat panel display for AIT Fold down keyboard tray with built in mouse X/Y Drive / Controller chassis Motion controller card Blower box (Exhaust hoses not included) Operations manual.
KLA/TENCOR/PROMETRIX AIT Iは、KLA CorporationとTENCOR Corporationが開発したウェハテストおよび計測機器です。半導体ウェーハの高速・高精度分析を目的としたシステムです。ウェーハの線幅、平坦度、オーバーレイアライメント、表面トポロジーを測定し、精度と再現性に優れた自動ウェーハ検査・計測ユニットです。KLA AIT Iは、Total Measurement Software (TMS)やApplications Programming Interface (API)などの独自技術を使用して、正確かつ再現性の高い結果を提供します。このマシンには、TMSおよびAPI機能を統合したウェーハ分析センター(WAC)があり、センサおよびイメージングヘッド、ネットワーク化されたデータ収集ハブ、およびウェーハハンドラなどの他のコンポーネントが含まれています。センサーとイメージングヘッドは、さまざまなスキャン幅、サンプリング密度、および測定機能を備えたウェーハのスキャンと測定に充電結合デバイス(CCD)を使用します。ネットワークデータ収集ハブは、センサおよびイメージングヘッドからデータを収集および分析し、品質管理のためのウェハ特性のグローバルマップを正確に生成します。ウェーハハンドラを使用すると、TENCOR AIT Iツールを移動してウェーハを正確に配置し、エッジ検出と測定を行うことができます。TMS (Total Measurement Software)は、センサおよびイメージングヘッドの制御、収集されたデータの表示、および必要に応じてプリンタまたはコンピュータへの測定結果のストリーミングを担当します。TMSには、欠陥メトリクスツールを備えた線形および非線形近似や、ウェーハの適合性を決定するためのフィーチャプロッタも含まれています。Application Programming Interface (API)は、CAD、可視化、データ収集、ウェーハ製造システムなどのさまざまなサードパーティ製システムに接続します。これにより、TMSをユーザーの既存のアーキテクチャに簡単に統合できます。APIにより、開発者はさまざまな環境でカスタムウェーハ解析ソフトウェアを作成および開発することができます。全体として、この資産は高精度で信頼性の高いウェーハテストおよび計測モデルです。その再現性と精度、さまざまな機能とコンポーネントを組み合わせたPROMETRIX AIT Iは、ウェハの品質管理に最適です。
まだレビューはありません