中古 KLA / TENCOR / PROMETRIX 7600 Surfscan #9083818 を販売中

KLA/TENCOR/PROMETRIX 7600 Surfscanは、半導体製造のために設計されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、半導体製造工程において、半導体ウェーハ表面の包括的な自動欠陥検出と特性評価を提供するように設計されています。Surfscan 7600ユニットは、半導体ウェーハの製造に使用されるさまざまな材料の表面トポロジーと欠陥を正確に測定するために、スペクトル反射計と光学顕微鏡の両方を提供します。ミクロンサイズの欠陥や特徴の大きさ、形状、位置、向きを定量化することができます。このツールの高度な検出機能により、0。2ミクロン以下の欠陥を検出することができます。Surfscan 7600は、直感的なユーザーインターフェイスといくつかの高度な機能を備えた信頼性の高い最先端の資産です。内蔵のWindows 10オペレーティング機器、ユーザーとの直接対話用の20 インチHD タッチスクリーンLCD、高品質の光学デジタルカメラ、照明と欠陥検出用のコンパクトな光源を備えています。このシステムは、バーコードリーダー、モーター式の自動X-Y-Thetaステージ、および完全に自動化されたサンプル識別ユニットでも構築されています。Surfscan 7600は、正確で信頼性の高い表面トポロジーマッピング、欠陥検出、および特性評価を提供するように設計されています。それは多くの異なった材料および特別なプロセスをテストできる適用範囲が広い機械です。このツールは、シリコンウェーハ、ガラスウェーハ、金属、誘電体などの幅広い材料をテストすることができます。この資産には、完全な欠陥検出、識別、分析機能があります。これは、高度な画像処理アルゴリズムや自動欠陥検出と分類のためのソフトウェアを含む強力なイメージングおよび分析ツールの配列が装備されています。Surfscan 7600には、欠陥タイプの包括的なライブラリが含まれています。これは、効果的な欠陥認識と分類に使用できます。要約すると、KLA 7600 Surfscanは包括的なウェーハテストと計測モデルです。半導体製造プロセスで使用されるさまざまな基板材料の表面トポロジおよび欠陥をテストするための高度な機能と機能を提供します。ミクロンサイズの欠陥を検出し、正確で信頼性の高い欠陥検出と分類が可能です。