中古 KLA / TENCOR P2H #9408171 を販売中

KLA/TENCOR P2Hは、半導体産業の歩留まりと生産スループットを向上させるために特別に設計されたウェーハ試験および計測機器です。3次元の自動目視検査プロセスを利用して、基板表面の潜在的な製造上の問題を検出します。これにより、現在のウェーハの欠陥の迅速な検出と修正、および全体的な生産の傾向が可能になります。KLA P-2Hシステムの自動顕微鏡イメージングユニットは、ウェハ上の構造や欠陥の形状を画像化して測定することができます。ウェーハエンジニアは、構造と欠陥に関する詳細な情報をキャプチャすることにより、あらゆる異常を迅速に検出、分析、報告することができます。また、単一のデータ源を提供できる他のソフトウェアとの統合を可能にすることで、エンジニアは同じウェーハの複数の検査画像を表示することができます。また、さまざまなカスタム分析ツールだけでなく、インタラクティブなグラフィカルディスプレイやレポートも提供しています。TENCOR P 2Hツールの自動測定ソフトウェアは、画像を迅速に測定および分析するように設計されています。その自動画像処理アセットは、ウェーハの基板の変化を学習し、調整し、検査時間を短縮し、精度を向上させます。操作ソフトウェアには、テンプレートマッチング、ホットピクセルマッチング、空間寸法設定、背景推定など、さまざまな欠陥検出オプションもあります。このオプションの範囲は、微妙な欠陥の正確な検出と分類を可能にします。P 2Hモデルはまた、プロセッサの製造品質を測定および追跡するデータ駆動テストおよび分析を提供します。これらの高度な機能により、装置はプロセスの改善を特定し、歩留まりを測定し、プロセスの流れと設計によって発生する廃棄物を減らすことができます。さらに、ウェハテストデータやその他の生産番号を工場内の他のシステムと共有できるデータ接続機能も備えています。全体として、KLA P2Hは包括的なウェーハテストおよび計測システムであり、高いレベルの性能、精度、信頼性を提供します。その自動3次元検査プロセスと包括的な機能の範囲は、品質を向上させ、コストを削減し、生産スループットを向上させる機能をメーカーに提供します。