中古 KLA / TENCOR P20 #293628464 を販売中

KLA/TENCOR P20は、CCDイメージング装置と高度なレーザー測定システムを組み合わせて半導体材料の欠陥を検出するウェハテストおよび計測機器です。ウェーハベースのデバイスのプロセス制御、故障解析、生産監視のための強力なツールです。KLA P-20には可変感度設定があり、サブミクロンサイズの欠陥を検出することができます。CCDイメージングデバイスは、ウェーハ表面をスキャンするために使用されます。デバイスがウェーハ表面を移動すると、レーザービームはウェーハ表面から反射した反射光を測定します。この記録データは、ウェーハの表面欠陥やその他の問題を特定するために使用されます。CCDイメージングユニットは、高速かつ正確な測定を可能にする高解像度、高速スキャンエンジンを搭載しています。スキャン速度は調整可能で、最大スキャン時間は1秒です。このマシンには、検査からのすべてのデータを格納する測定データベースもあります。このツールは信頼性が高く、統合されたアセットコントローラ、リアルタイムプロセス監視、プログラム可能な故障アラーム、自動テストスタンドモードなどの機能が組み込まれています。また、データ分析とレポート生成のための使いやすいインターフェースを提供するソフトウェアと統合されています。TENCOR P 20のモデルは長期操作のために設計され、生産環境で使用することができます。大容量で信頼性の高い操作により、高度なデバイスのプロセス制御、故障解析、生産監視に適しています。高度な診断および欠陥報告装置により、生産監視および欠陥検出に最適です。結論として、KLA/TENCOR P 20は、高度なレーザー測定ユニットと高解像度の高速スキャンエンジンを含む高性能ウェーハ試験および計測システムです。ウェハベースのデバイスのプロセス制御、故障解析、生産監視に便利なツールです。