中古 KLA / TENCOR P2 #9217450 を販売中

KLA/TENCOR P2は、高度な半導体ウェーハ検査および分析用に設計されたウェーハ試験および計測機器です。これは、信頼性の高い、世界クラスのプロセス制御と欠陥検出機能を提供します。KLA P-2は、お客様が可能な限り最高のプロセス歩留まり、歩留まりの安定性、およびプロセスサイクルタイムの最適化を達成することを可能にします。システムのモジュラープラットフォームにより、お客様は特定の要件に合わせてカスタマイズでき、製品は最大限の柔軟性と拡張性を備えているため、あらゆるサイズのウエハファブに最適です。TENCOR P 2は、高解像度FPD（フラットパネルディスプレイ）ディスプレイを備え、優れた画質と信頼性の高い使いやすいタッチスクリーンインターフェイスを備えています。このユニットは、ビームデフレクションマシン（BDS）、高電圧電源およびエレクトロニクス（HVSE）ユニット、大判ホワイトライトカメラ（WLC）、リアルタイムイメージプロセッサ（RTIP）など、いくつかのコンポーネントで構成されています。BDSユニットは、HVSEユニットによって生成された光ビームをウェーハの表面から剥離させ、WLCがウェーハの表面の画像をキャプチャできるようにします。RTIPは、WLCによってキャプチャされた画像を処理し、ツールの他のコンポーネントと通信する責任があります。WLCは、ウェーハ表面の高精度な画像をキャプチャし、リアルタイムの欠陥検出機能を提供します。このアセットは、表面欠陥、表面の不規則性、平坦性の問題、粒子の汚染、ひずみ層など、ウェーハ上のさまざまな欠陥を識別するために使用できます。KLA/TENCOR P-2は、ウェーハの表面を完全に理解するために、光学測定や電気測定などのさまざまな計測オプションをサポートしています。TENCOR P-2は、幅広い検査モード、ターゲット同期技術、オンサイトデータストレージ、高度なデータ処理機能など、さまざまなオプションを用意しています。このモデルはサードパーティ製システムと統合することもでき、お客様はその機能を活用することができます。要するに、P2は強力で信頼性の高いウェーハテストおよび計測機器です。これは、高度な欠陥検出とプロセス歩留まり向上のための理想的なプラットフォームを提供します。このシステムは高度にカスタマイズ可能で、お客様の特定の要件を満たすように構成することができます。TENCOR P2は、お客様が正確で信頼性の高いウェーハ試験および計測結果を達成することを可能にし、半導体ウェーハ製造に最適なソリューションです。