中古 KLA / TENCOR P2 #9009073 を販売中

KLA/TENCOR P2は、多種多様な半導体分析のためのウェハテストおよび計測機器です。KLAのKLA P-2システムは、デバイス特性評価のための高精度ツールであり、半導体材料の分析のコストと市場投入までの時間を削減します。TENCOR P 2ユニットは、一連の焦点測定機能を備えた統合プラットフォームと、抵抗、シート抵抗、移動性、破壊電圧、膜厚、臨界寸法測定などの特性を含む材料のサイズ、形状、組成を正確に測定するための直感的なソフトウェアを備えています。P-2マシンは、サンプルウェーハを検査領域に自動的に正確かつ高スループットで整列させるための高速アライメントツールで設計されています。これにより、TENCOR P2アセットは、臨界寸法、シート抵抗プロファイル、モビリティ特性、抵抗測定など、サンプルのさまざまな特性を迅速かつ正確に測定できます。KLA P 2モデルの統合プラットフォームには、高精度の物理的および化学的測定を生成するように設計されたレーザー干渉計や散乱計などのさまざまな技術が含まれており、お客様にデバイスに関する膨大な量の詳細情報を提供します。この統合されたプラットフォームにより、複数の分析寸法、およびプロセスをより深く理解するための補助測定が可能になります。ユーザーフレンドリーなTENCOR P-2ソフトウェアは、統計解析や履歴解析などの強力な分析ツールを提供します。これにより、オペレータはパラメータ設定、フォーカシング、データ処理を通じてジョブをカスタマイズでき、使いやすくパワフルなプラットフォームを実現します。P 2装置は、生データからカスタムプロセス開発まで、3つの異なるレベルの動作で、生産プロセスが可能な限り最高の精度と再現性で動作できるようにするために不可欠なツールです。全体として、KLA/TENCOR P 2はウェーハテストと計測のための効率的で統合されたソリューションを提供し、ユーザーは正確で詳細な結果を迅速かつ簡単に得ることができます。KLA/TENCOR P-2システムは、高度な測定機能と直感的なソフトウェアを備えており、さまざまなデバイス特性評価タスクに最適な、信頼性の高い業界をリードするソリューションです。