中古 KLA / TENCOR P17 #293629793 を販売中

KLA/TENCOR P17は、大量生産アプリケーション向けに設計された自動ウェーハ試験および計測機器です。光学計測のデータ精度と電気試験の高速度を組み合わせ、一貫した正確な結果を保証します。このシステムは、欠陥検査、計測、パラメトリックテスト、プロービング、ウェーハレベル、コンポーネントレベルテストが可能です。ユニットの中心には、高度な独自アルゴリズムを使用して、最も困難な欠陥を検出する強力なKLA P-17光検査ツールがあります。100mm〜300mmウェーハのオープン、ショート、薄膜、はんだペーストなどの微細構造欠陥を検出できます。また、強力なオートフォーカスアルゴリズムを備えており、正確なウェーハ検査、トップレベルの検出精度、および最小限の誤報を保証します。TENCOR P 17は、ウェーハの表面全体を1秒未満で素早くテストできる高速サイズのスキャナ機能を備えています。その組み込みの測定機能は、抵抗、反射率、および表面形態を測定することができます。KLA P17の高度なライブビューポートフォリオアーキテクチャは、テスト時間と精度を最適化するために設計されたいくつかのモジュールで構成されています。このアーキテクチャは、高速スケーラビリティと柔軟性を提供し、異なるテストタイプを同時に処理することができます。高性能、多軸、高効率のプローブアプローチは、正確な再現性と迅速な実行を保証します。さらに、P17の特許取得済みプローブモジュール技術により、標準プローブで使用される接触力の100分の1を削減し、長期的な信頼性を確保します。KLA/TENCOR P 17のモジュラー設計と幅広い周辺機器により、あらゆる本番環境のニーズに合わせて構成することができます。組み込みの柔軟でプログラマブルなAutostrobeキャリブレーションツールは、照明の変化を補正し、資産のサンプルが均等に照らされるようにします。P 17は、電気試験、物理構造試験、光学計測など、さまざまな試験に対応できます。さらに、このモデルの高度なデータ解析ソフトウェアは、エンジニアが測定を解釈し、ウェハレベルの問題を迅速に特定して解決し、高度なテスト設計を作成するのに役立ちます。高精度の光学測定、高速電気測定、高度な解析アルゴリズムを組み合わせることで、TENCOR P-17はこれまでにないレベルの試験および計測機能を提供します。