中古 KLA / TENCOR P16+ #9130068 を販売中
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ID: 9130068
ウェーハサイズ: 2"-6"
ヴィンテージ: 2010
Surface Profiler, 2"-6"
Maximum scan length: 80 mm or 200 mm
Laterial resolution1: X = 25 nm, Y = 1 µm
Microhead 5 SR: Vertical range 327 µm
Stylus force 1-50 mg
13 µm, resolution <0.01A
64 µm, resolution <0.04A
327 µm, resolution < 0.20A
Microhead 5 LF: Vertical range 130 µm
Stylus force 0.05-50 mg
6.5 µm, resolution < 0.01 A
26 µm, resolution < 0.02 A
130 µm, resolution < 0.10 A
Microhead 5 XR: Vertical range 1000 pm
Stylus force 0.5 - 50 mg
13 µm, resolution < 0.01 A
130 µm, resolution < 0.08 A
1000 µm, resolution < 0.60 A
Vertical linearity2: ± 0.5% above 2000 A
10 A below 2000 A
Repeatability: 7.5 A or 0.1% (1 s),whichever is greater
Reproducibility: 15.0 A or 0.25% (1 s), whichever is greater
Scan speed3: 2 µm/sec to 25 mm/sec
Sampling rate: 5, 10, 20, 50, 100, 200, 500, 1000 Hz
Stylus control: Electromagnetic force compensation
Stylus: 4 different radii for long-scan
applications—2.0 µm, 5.0 µm,
12.5 µm, 25 µm (coarse). Submicron
radius (0.1 - 0.8 µm) for micro
surface analysis (fine)
Dual view optics (field of view):
Side view: 1750 x 1750 µm
Top view: 1400 by 1040 µm or optional 900 by 650 µm
Camera: Optional digital color camera
Relative humidity : 30 - 40% (non-condensing) recommended
Temperature : 16°-25° C, rate of change ≤2° C/h
Electrical : 90 - 110 V, 50 - 60 Hz
110 - 130V, 50-60 Hz
208 - 260V, 50 - 60 Hz
Power requirements: 430 VA
Vacuum : 500 mm Hg @ 27 liters/min
Floor vibration : ≤250 µ inch/s (6 4 pm/s) RMS, 1-100 Hz
Audio noise : ≤80 dB (C weighting scale)
Laminar airflow : ≤100 ft/min (30 m/min) down blowing recommended
Microprocessor: Pentium®4 2.8 GHz or greater
Operating system : Windows® XP-based operating system
RAM : 1 GB or greater
Disk storage : 80 GB or greater
Removable storage : 3.5 inch, 1.4 MB floppy disk drive DVD/CDRW
Monitor: 17-inch flat panel LCD
Network : PCI ethernet card
2010 vintage.
KLA/TENCOR P16+は、最先端の半導体プロセス向けに設計されたウェーハ試験および計測機器です。KLAファミリーの主力製品であり、粒子試験、プロセス制御、ウェーハ表面計測に業界をリードする性能を提供します。KLA P 16+は、12インチおよび8インチのウェーハを含む複数のウェーハ構成をサポートし、3-Dimensional非接触(3D-NC)検査および光学3Dプロファイリング(3DOP)アプリケーションをサポートします。このシステムは、TSV、 Cu pillar、 eTOXなど、あらゆるタイプのウェーハトポグラフィーに対して高度なテスト機能を提供します。基板トポグラフィ、3Dフィーチャー、およびその他の重要なパラメータにわたって正確な測定を提供するように設計されています。TENCOR P-16+ユニットは、非接触試験機能と非接触試験機能の両方を提供します。革新的で高度なアーキテクチャと特許技術を組み込み、ウェーハテストと完全なデータ収集プロセスの時間を短縮します。これらの技術により、マシンは、所望の基準または事前に定義された制限に基づいて確立された標準と効率的にテスト結果を比較することができます。このツールは、高度なアルゴリズムベースの自動欠陥検出機能を使用して欠陥を検出することもできます。TENCOR P 16+は、直感的でユーザーフレンドリーなインターフェースを備えており、データ管理と結果の視覚的な表示が容易に行えます。また、DataTrendsツール、Digital Manufacturing Toolbox、画像分析など、効率と生産性を向上させるためのさまざまなユニークなソフトウェアツールも付属しています。包括的なツールボックスは、Web対応インターフェイスを介して利用可能な機能の配列と組み合わせることで、アセットが迅速に結果を分析、視覚化、レポート化できるため、本番環境に最適です。さらに、このモデルは業界をリードする計測機能をサポートし、高精度と再現性を提供します。高度なアルゴリズムと高速スキャンを組み合わせることで、さまざまな基材に超滑らかな表面を生成します。また、高度なプロセス制御から歩留まり解析まで、さまざまなアプリケーションの複数の計測アプリケーションをサポートしています。TENCOR P16+は、デバイスを測定、分析、検査するための効率的で費用対効果の高いツールをメーカーに提供します。インテリジェンスベースの自動化機能、包括的なツールセット、高度なウェーハテストおよび計測機能を備えた、最高レベルのパフォーマンスを提供します。この装置は、大量生産環境に最適な選択肢であり、歩留まりとサイクル時間を確保するために必要な柔軟性と精度を提供します。
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