中古 KLA / TENCOR P16+ #293815639 を販売中

KLA/TENCOR P16+装置は、半導体産業に包括的な計測ソリューションを提供するように設計された自動ウェーハ試験および計測システムです。高度なアルゴリズムと独自のセンシング技術を使用して、ウェーハを迅速かつ正確に測定および分析します。KLA P 16+は、0。8〜32ミクロンの厚さ範囲のウェーハおよびその他の基板の厚さ、故障解析、および地形の測定に使用できます。また、プロセスモニタリングや詳細欠陥解析など、さまざまなレベルの光学試験にも対応できます。TENCOR P-16+には、反射や屈折率測定など、さまざまな試験に使用できる多波長レーザー照明を搭載した洗練された光検査機が装備されています。独自のマルチウェーブエレングスオプティクスにより、NISTの追跡可能な認定テストを超えてツールを実行できます。また、交換レンズ付きのモジュラープローブヘッドとステージプレートを使用して、高精度サンプリングと測定を行います。KLA P-16+は、アナログまたはデジタルフォーマットで幅広い電気試験信号をキャプチャすることもできます。このインターレース機能により、テスト特性評価、プロセス監視テスト、フォルト解析が可能になります。さらに、このモデルには、高度な組み込みソフトウェアと強力な分析ソフトウェアツールが含まれており、データキャプチャと分析が簡単に行えます。KLA/TENCOR P-16+機器は、ユーザーのニーズと予算に応じてさまざまな構成で利用できます。KLA/TENCOR P 16+システムには、最大3,000,000ポイントのウェーハ表面全体を正確に測定する自動ウェーハマッピングユニットが含まれています。また、画期的な断面イメージングマシンを搭載し、スキャン対象物の立体構造を正確に解析することができます。全体として、KLA P16+ウェーハテストおよび計測ツールは、あらゆる種類の生産および研究アプリケーションに優れた性能と精度を提供します。高度な光検査資産、自動ウェハマッピングモデル、強力な分析ソフトウェアにより、半導体製造者や研究者にとって理想的な選択肢となります。