中古 KLA / TENCOR P15 #9302869 を販売中

KLA/TENCOR P15ウェーハ試験および計測装置は、半導体ウェーハのさまざまな特性を正確に測定できる自動計測プラットフォームです。ウェハマッピングツール、光学計測ツール、加速度テストツール、その他の測定および分析ツールなど、幅広いウェハツールを提供しています。また、直感的なユーザーインターフェイスと、標準およびカスタムメイドのテスト手順の包括的なライブラリで、操作が簡単にできるように設計されています。KLA P-15には、輪郭ツールや厚さプロファイラなどの強力な光学計測ツールが多数付属しています。これは、手動技術のほんの数分の1の時間で正確な測定を保証する自動フォーカシングシステムで設計されています。さらに、TENCOR P 15は、レーザテクスチャリングおよびウェーハパターニングアプリケーション用の高出力レーザービームを備えています。レーザーの使用電圧は特定の適用のために調節可能であり、レーザーはより高い精密結果のための脈拍モードに置くことができます。KLA P 15はウェーハの加速度も測定できます。このユニットは、高速加速度センサと高精度エンコーダを使用して、テスト中のウェーハの加速度と減速を正確に測定します。さらに、ウェーハ加速/減速試験ツールを使用して、繰り返し可能な試験結果を作成し、ウェーハの品質を確保することができます。このマシンには、ウェーハの表面を正確にマッピングするように設計されたマルチコラムのウェーハマッピングツールもあります。このツールは16列の配列を使用して、ウェーハ表面の厚さ、高さ、面積などのマップを簡単に作成します。このツールは、標準のソフトウェアインターフェイスを介して操作することもできます。全体として、P 15はウェーハテストと計測のためのさまざまな強力なツールと機能を提供する自動計測プラットフォームです。ユーザーフレンドリーなインターフェースを使用して設計されており、マニュアル方法のほんの一部の時間で正確な結果を得ることができます。さらに、KLA P15には、加速と減速、輪郭、レーザテクスチャリングとパターニング、およびウェハマッピングを測定するためのさまざまなツールが装備されています。これらの機能により、P15はウェーハテストおよび計測アプリケーションに最適です。