中古 KLA / TENCOR P15 #9166831 を販売中

KLA/TENCOR P15は、現在の半導体業界で使用されているウェーハを正確かつ効率的にテストおよび分析するために設計されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムでは、3D自動フィーチャー認識（AFR）技術を使用して、ウェーハをマイクロ・スケール・レベルまで高速に解析できます。この機能により、KLA P-15は形状、フィーチャーサイズ、位置を正確かつ迅速に識別できます。TENCOR P 15は、高解像度の画像を歪みなくキャプチャできる高速電子ビーム光学装置を搭載した高解像度ユニットです。このツールは、精密部品や半導体ウェーハを検査・測定するツールとして歴史的に使用されてきました。そのイメージングおよび解析機能は、欠陥検出および故障解析を含むように拡張されるようになりました。さらに、KLA P15は、深さ、幅、高さを1ミクロン以下の精度で測定することができます。KLA P 15は、100mmから300mmまでの複数のウエハータイプとサイズに対応する柔軟性を備えています。アセットは堅牢な溶接スチールフレームで設計されており、試験中の振動分離と最大精度を提供します。高度な高出力コンピュータ断層撮影（CT）スキャンおよびフィルタリング機能により、ウェーハサーフェス全体で3,500万以上の機能をリアルタイムにキャプチャしてウェーハデータを正確にスキャンおよび分析できます。P-15は直感的なユーザーインターフェイスを持ち、直感的な「ドラッグアンドドロップ」機能を提供し、モデルのテストおよび計測機能を素早くカスタマイズできます。さらに、P15は高度なデータ収集、保存、編集、エクスポートが可能です。データ分析プログラムにもアクセス可能で、結果の迅速な可視化と合理化されたコミュニケーションが可能です。KLA/TENCOR P-15は、多数のアプリケーションに使用でき、比類のない分析機能を提供する高度なウェハテストおよび計測機器です。高解像度の画像処理、高速な取得速度、直感的なユーザーインターフェースにより、TENCOR P15システムは、正確で信頼性の高い欠陥検出および故障解析に依存する業界にとって理想的な選択肢となります。P 15は、ウェーハテストと計測のためのオールインワンソリューションを提供し、あらゆるレベルの生産に必須です。