中古 KLA / TENCOR P15 #293820423 を販売中

KLA/TENCOR P15は、半導体製造プロセスで使用するために設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、多層ウェーハ検査と計測、および表面計測を提供します。さらに、このユニットは重要な寸法を測定および測定し、表面欠陥を明らかにし、プロセス能力を提供することができます。このマシンは、最大2000mmの長尺プローブに対応できる測定ヘッドを備えており、最大限の柔軟性を実現する傾斜可能なプラットフォームを備えています。10350シリーズコンピュータを搭載し、背面から500mm×500mmのウェーハを検査する2MPマスクレスステッパーを内蔵しています。このツールには、測定精度と欠陥検出を提供する特許技術であるLevel 1 Profiling Technologyを使用した計測資産が装備されています。このモデルの光学センサは、プロセスの問題や物理的な欠陥が原因であるかどうかにかかわらず、ウェーハに存在する可能性のある欠陥を検出します。KLA P-15は包括的なデータ分析を提供し、ユーザーが収集したデータから結論を導き出すことができます。これは、ユーザー定義パラメータの必要性から欠陥を識別して定量化するために使用できる幅広いアルゴリズムをサポートしており、機器には基本的な特性評価と結果のグラフ化を実行するためのツールが含まれています。このシステムには、プロセスの歩留まりを向上させ、生産の信頼性を向上させ、最適なプロセス設定を保証するために使用される複数のソフトウェアツールも含まれています。これらのツールを使用すると、オンザフライの欠陥特性評価、自動拒絶設定、高度なプロセスコントロールなど、さまざまな機能にアクセスできます。このユニットは、ユーザーフレンドリーで、ドロップダウンメニューとステップバイステップの指示を提供する包括的なユーザーマニュアルを提供するように設計されています。さらに、このマシンは1年間のサービス契約でカバーされ、予期しない問題が発生した場合に迅速かつ信頼性の高いソリューションを提供します。全体として、TENCOR P 15は先進的かつ最先端のウェーハ試験および計測ツールであり、半導体製造事業に包括的なソリューションを提供します。強力なハードウェアと直感的なソフトウェアツールを組み合わせることで、製造メーカーはウェーハを効率的かつ正確に検査、測定、分析することができます。