中古 KLA / TENCOR P15 #293750855 を販売中

KLA/TENCOR P15は、半導体産業で使用される有名なウェーハ試験および計測システムです。低コストで使いやすいプラットフォーム内で、高解像度で高速なウェーハ欠陥カバレッジを提供します。KLA P-15は、ハードウェアとソフトウェアのユニークなブレンドを組み合わせて、0。2ミクロン未満のウェーハ欠陥カバレッジを提供します。高度なハードウェアとオートメーションおよび計測ソフトウェアを組み合わせることで、TENCOR P 15はシームレスに欠陥を整列させ、遮断して歩留まりを改善し、スクラップを削減します。TENCOR P-15は、共通のプラットフォーム内に収納されたScanning Acoustic Microscope （SAM）モジュールを備えており、欠陥検出と解析に高解像度を提供します。この車両は、迅速かつ正確なスキャン、アライメント、簡単かつ迅速なデータ登録、分析、表示で欠陥データの取得を可能にします。また、最大1,000X倍の光学倍率、最大10,000X個のDigital Intermediate Magnification （DIM）の5つの顕微鏡オプションにより、最も小さな欠陥をキャプチャおよび特定できます。さらに、P15は、欠陥タイプと分布の自動可視化を可能にする結晶構造解析および特性評価技術であるフィーチャーマッチングを提供しています。P-15ソフトウェアは、2Dおよび3D画像で表示されるウェーハマップを使用して、ウェーハ欠陥の自動検査および分析を提供します。これらのマップは、欠陥座標、フィーチャー形状、サイズ、および欠陥の3D表現を提供します。ハードウェアとソフトウェアの機能を組み合わせることで、KLA P15は高品質の半導体ウェーハを大量にテストするための効果的なソリューションを提供します。効率的で費用対効果の高いプラットフォームは、高度なオートメーションおよび計測機能を統合し、信頼性の高い品質と詳細な欠陥カバレッジを保証します。