中古 KLA / TENCOR P15 #293633404 を販売中

KLA/TENCOR P15は、高精度、自動化された欠陥および歩留まり管理を可能にする高度なウェハテストおよび計測機器です。このシステムは、幅広い半導体ウェーハをテストするための最高レベルの効率と精度を確保するための統合プラットフォームを備えています。KLA P-15は、Bright Field （BF）とDark Field （DF）の2つの先進技術を活用しています。BFマシンは、ウェーハ表面の全体像を提供し、スキャン電子顕微鏡などの従来の方法では見ることができない欠陥をキャプチャします。BFツールは、粒子、ひずみ、亀裂、ピットなどの小さな欠陥タイプを識別するためにも使用されます。BFアセットに加えて、TENCOR P 15もDFモデルを採用して、ウェーハの奥深くに見えます。この装置はBFシステムよりも解像度が高く、より高い精度でウェーハ上のさらに小さな欠陥を検出することができます。DFユニットは、解像度を向上させることで、ウエハー内およびダイ間の欠陥、および構造上の問題を検出することができます。さらに、DFマシンは、正確な形状を測定し、ウェーハの正確な寸法を確保するために使用されます。KLA/TENCOR P 15ツールは、ウェーハテストおよび計測アプリケーションにおいて高精度で信頼性の高いツールであり、精度と速度のための包括的な機能セットを提供します。自動テストアルゴリズム、高解像度イメージング機能、強力なウエハハンドリングコンポーネント、新しい照明モード、高度なデータ分析機能により、あらゆるタイプの半導体ウェハテストおよび計測アプリケーションに最適なソリューションです。TENCOR P15には、ハイスループット解析を可能にするさまざまな自動テストルーチンも含まれており、各テストの結果をリアルタイムでフィードバックします。これにより、製造上の問題や歩留まりの特定と優先順位付けが容易になり、製造メーカーは必要に応じて迅速な是正措置を講じることができます。さらに、アセットのモジュール式でスケーラブルな設計により、ユーザーは時間をかけてモデルを構築することができ、オペレーションの成長と進化に合わせて容量とパフォーマンスを向上させることができます。全体として、KLA P15は、製造メーカーが最高レベルの品質と効率を達成できる包括的な機能と機能を提供する高度なウェーハテストおよび計測ソリューションです。高精度のイメージング機能、自動化されたテストルーチン、およびモジュール式のスケーラブルな設計により、P-15はあらゆる半導体ウェーハ試験および計測要件に適しています。