中古 KLA / TENCOR P11 #9248608 を販売中

KLA/TENCOR P11は、包括的な臨界寸法、オーバーレイ、および表面計測を提供するように設計されたウェハテストおよび計測機器です。このシステムは、最先端のデジタルイメージング技術と統合された包括的な光学クリティカル寸法、膜厚、およびオーバーレイ測定サービスを提供します。このユニットは、半導体ウェーハの物理的および電気的特性をリアルタイムかつ高精度に測定するための非接触光学イメージングマシンを備えた堅牢で堅牢なデジタルイメージングプラットフォームを備えています。イメージングツールは、サブミクロン分解能での画像キャプチャと解析を提供し、ウェーハ機能の高精度な測定を可能にします。KLA P-11には、重要寸法、オーバーレイおよび表面計測を検査および測定するためのさまざまなソフトウェアオプションが含まれています。このソフトウェアには、測定の再現性評価やプロセスツール監視などの高度な計測ツールが含まれています。また、製造プロセスの改善に役立つリアルタイムイメージングもサポートしています。このモデルは、ウェーハ試験および計測において優れた精度と再現性を提供するように設計されています。静電気、信号周波数、および測定精度に対するその他の干渉要因の影響を低減するために特別に設計された光源を採用しています。この装置は、パラメータ設定の広い範囲を提供し、正確で再現性のある測定を保証します。TENCOR P 11は、直感的でユーザーフレンドリーなグラフィックユーザーインターフェイスの利点もあります。セットアップ、操作、データレビューに役立ちます。このシステムは、標準的なオープンアーキテクチャのデータ交換フォーマットと測定機能をサポートしており、半導体業界にとって貴重なツールとなっています。P-11はウェーハテストと計測のための強力なユニットです。これは、ユーザーの測定要件に優れた精度、再現性、および適応性を提供します。最新の技術、ユーザーフレンドリーな操作を提供し、最高レベルの計測性能を提供します。