中古 KLA / TENCOR P11 #293821170 を販売中

KLA/TENCOR P11は、最も要求の厳しい半導体プロセスおよびリソグラフィ要件に対して強力な分析機能を提供するように設計されたウェハテストおよび計測システムです。テストと計測の両方で業界をリードしており、優れた性能と信頼性で評価されています。KLA P-11は、包括的なウェーハテストと特性評価のために複数の統合技術を利用しています。その特許取得済みの検査署名検証（ISV）機能は、複雑な欠陥署名を識別および区別し、より正確で再現性の高いプロセス特性評価と制御を可能にします。TENCOR P 11のAdvanced Scanning Optical Profiling （ASOP）は、ウェーハレベルからトランジスタレベルまでの正確でリアルタイムなウェーハ測定を可能にします。その他の高性能機能には、複数の故障モードでの自動欠陥レビュー、検査および障害分離、および共通の故障データベースを備えた最大16のテストシステムの統合などがあります。さらに、TENCOR P11は、標準DUT（試験対象デバイス）および複雑な試験構造の高速試験およびパラメトリック測定を提供し、その高度な計測技術により、1ダイあたり最大6の計測値が得られます。そのモジュラーアーキテクチャはセットアップ、構成、診断を簡単にし、アップグレードは迅速かつ簡単です。KLA/TENCOR P 11は、強力なウェーハテストと計測を必要とするアプリケーションに最適です。その高度な技術と機能により、ウェーハとデバイスの迅速かつ信頼性の高い特性評価が可能になり、直感的でモジュール式の設計によりセットアップ時間とメンテナンスコストが削減されます。