中古 KLA / TENCOR P11 #293661312 を販売中

KLA/TENCOR P11は、半導体製造におけるウェハレベルの試験経験を向上させるために設計されたウェハテストおよび計測機器です。この機器は、前任のP10の最先端技術と、より大きなP15システムの高度な機能を組み合わせています。優れたFTIR （Fourier Transform Infra-Red）解析と高精度の信号キャプチャを維持しながら、1つのユニットで6「から12」までの範囲のウェーハを収容できます。その高精度、スループット、ユーザビリティにより、ウェハレベルのテストと計測アプリケーションの両方に対応する強力なツールとなります。KLA P-11は、画期的なフォトダイオードアレイ（PDA）技術を実装して、単一のフルウェーハ測定で44個のフォトダイオードサイトからのデータをキャプチャおよびダイジェストします。このアレイの各フォトダイオードは、個々に構成され、最大忠実度と精度の信号を取得します。この結果は、複数の場所で相対的かつ絶対的なデータ相関を持つ包括的な測定で、優れた精度とテスト反復回数が少なくなります。TENCOR P 11のFTIR機能とPDA技術は、試験構造や性能パラメータの微妙な変化を検出することができます。これにより、手動および自動テスト/計測の両方のシナリオで、複雑な信号およびノイズ分析のための高精度なデータを取得できます。プロセス制御システムには、KLA/TENCOR P 11も用意されており、ウェハテストシーケンスとタイミングをより大きな制御できます。これにより、インストゥルメント制御言語（ICL）プログラムセットによって可能になったウェーハテスト操作の柔軟で高精度な実行が保証されます。KLA/TENCOR P-11の性能と精度を向上させ、時間とともに精度を維持するために、独自の光学技術を使用してハードウェアの変動を補償します。自律監視と制御により、光学パラメータを動的に調整することで、さまざまなテストで高精度な応答を維持することができます。P11の高度な処理と高度な光学技術は、高度なデータキャプチャ、正確な波形測定、リアルタイム信号解析、その他のさまざまな機能をユーザーに提供します。全体として、このマシンは優れたデータ精度、迅速な測定時間、および試験および計測アプリケーションの両方の運用効率を提供するため、最も要求の厳しい半導体製造オペレーションに最適です。