中古 KLA / TENCOR P1 #293608771 を販売中

KLA/TENCOR P1は、顧客の製品の検査と測定を支援する高精度で費用対効果の高い方法を提供することを目的としたウェハテストおよび計測機器です。イメージングセンサーとパターン認識技術の両方を利用して、プロセス最適化と制御のための半導体デバイスの構造と層の厚さを含むデバイスの物理的および電気的特性を分析します。このシステムは、ウェーハ検査から最終計測まで、ウェーハ製造のすべての段階をカバーするアプリケーション向けに設計されています。サンプルの温度、層構造、反射率、容量、および電気特性に関する情報を収集します。このユニットテクノロジーは、テストウェーハの不要な領域を削除するためにデータを収集することによって機能し、興味のある領域をより簡単に表示し、より迅速な分析を可能にします。高度なイメージングマシンを使用して、1〜6ミクロンのウエハ構造と層の厚さを正確に測定し、欠陥を正確に特定および分析します。イメージングツールは、高解像度カメラと発光ダイオード（LED）で構成されており、各測定の正確な結果を保証するために、テストウェハの画像とビデオをキャプチャします。この資産はまた、さらなる分析のためのデータを提供することができます。デバイスの特性、構造の温度、プロセスの安定性、その他の関連データに関する情報を提供することができます。KLA P-1は、製品の効率的な生産測定を行う必要があるユーザー向けに設計されています。プロセス効率の向上、コストの削減、サイクルタイムの短縮など、ユーザーにいくつかの利点を提供し、プロセスパラメータの最適化と新しいプロセス技術の開発を可能にします。さらに、このモデルには、データアクセスと分析を容易にする使いやすいソフトウェアインターフェイスが装備されています。このソフトウェアには、ユーザーがデータにすばやく簡単にアクセス、分析、比較できるさまざまなツールが含まれています。結論として、TENCOR P 1ウェハテストおよび計測機器は、半導体デバイスの製造プロセスを制御および最適化する高精度で費用対効果の高い方法をユーザーに提供する高度なシステムです。ユーザーがデータを迅速かつ正確に測定、分析、比較できる有益な機能を備えています。このユニットを利用することで、ユーザーはプロセス効率を向上させ、コストを削減することができます。これにより、製品の精度と制御が向上します。