中古 KLA / TENCOR P-7 #9204283 を販売中

KLA/TENCOR P-7は、半導体ウェーハおよびデバイスの完全な特性評価用に設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。独自の包括的なPicoTOUCH Contour Metrology Systemをベースにしており、高速で正確でフェイルセーフな測定が可能です。このユニットは、高精度のレーザー干渉計を使用して、ウェーハやデバイス表面の表面形状を測定するための非接触測定を提供します。また、カスタム開発されたデータ分析およびプロセス特性評価ソフトウェアを使用して、結果を分析および報告します。このソフトウェアは、見栄えの良いグラフィカルユーザーインターフェイス、高速データ収集および分析エンジン、およびメトリクスおよび記述変数を抽出および報告するためのモジュールを含む複数のモジュールで構成されています。測定が正確で、再現性があり、信頼性が高いことを保証するために、さまざまな高度なアルゴリズムが含まれています。KLA P-7はデュアルマウント機能を備えています。2つのウェーハを一度に取り付けることができ、効率的なスループットを実現します。このデュアルコンポーネントの助けを借りて、同じウエハ上の複数のデバイスを同時に正確に測定することができます。高度なアルゴリズムを使用して、このツールはウェーハ上の個々のデバイスを識別し、個々の分析のためにそれらを分離することができます。このアセットは、統合されたレポート対応テンプレートを使用して、検査データを迅速かつ簡単にフォーマットし、ウェーハ全体と特定の機能とデバイスを包括的に比較および分析できます。さらに、粒子の汚染、欠陥領域の存在、エッチングの均一性など、ウェハレベルの重要な機能をキャプチャするための高度な高速イメージング装置も搭載しています。この高度なウェーハテストと計測システムは、さまざまな業界の品質管理とプロセスの最適化に最適です。ユニットは簡単にインストール、操作、および維持しながら、貴重な情報を提供し、プロセス制御と生産プロセスの歩留まりを強化します。