中古 KLA / TENCOR P-20H #293652635 を販売中

KLA/TENCOR P-20Hは、半導体デバイスの製造において高速、高精度のウェーハ試験および計測機能を提供する高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、迅速かつ正確なウェーハ品質の特性評価と適応プロセス制御のために設計されており、高性能ウェーハ製品の生産を可能にします。光学、電気、機械、化学分析など、幅広い計測技術を備えており、幅広いアプリケーションでウェーハのテストと計測性能を可能にするように設計されています。KLA P20Hは、高度なイメージング技術と高度な光学、電気、機械、化学特性評価技術を組み合わせて、ウェーハの欠陥を特定および分析します。デジタルカメラを使用してウェーハを撮影し、フォーカスイメージングと可変角度散乱イメージングを組み合わせ、欠陥検出、分類、プロセス最適化のための高解像度イメージングを提供します。自動マッピングや欠陥解析、オーバーレイアライメント、プロセスモニタリングツール、信号処理技術、高度なデータ解析アルゴリズムなど、さまざまなツールが組み込まれています。このユニットは、自動化された非破壊検査（NDT）機能を備えており、ウェハテストおよび計測において高い精度と再現性を実現します。TENCOR P 20Hの高速化により、ウェーハテストが迅速に実行され、生産プロセスをタイムリーに調整できます。TENCOR P-20Hは、NDT機能に加えて、高度な計測分析および統合ソフトウェアパッケージを提供し、ウェーハプロセスと計測性能の正確な特性評価を可能にします。計量分析ツール（Metrology Analysis Tool、 MAT）やプロセス分析マシン（PAS）など、さまざまなソフトウェアパッケージが計量分析に利用できます。P 20Hはまた、包括的なトレーサビリティとデータアーカイブを提供します。これにより、計測解析の完全なトレーサビリティとデータアーカイブが可能になり、問題解決とプロセス最適化に不可欠です。KLA P 20 Hは、包括的なウェーハテストと計測機能を提供する高度なツールです。ウェーハテストと計測の高効率で正確な手段を提供し、ユーザーはプロセスを最適化して歩留まりと製品性能を向上させることができます。